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龍圖騰網恭喜浙江大學申請的專利基于熱反射法的亞微米級多層堆疊材料總熱阻測量方法獲國家發明授權專利權，本發明授權專利權由國家知識產權局授予，授權公告號為：CN119147586B 。

龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-04-18發布的發明授權授權公告中獲悉：該發明授權的專利申請號/專利號為：202411614948.6，技術領域涉及：G01N25/20；該發明授權基于熱反射法的亞微米級多層堆疊材料總熱阻測量方法是由王偉烈;涂敬設計研發完成，并于2024-11-13向國家知識產權局提交的專利申請。

本基于熱反射法的亞微米級多層堆疊材料總熱阻測量方法在說明書摘要公布了：本發明公開一種基于熱反射法的亞微米級多層堆疊材料總熱阻測量方法，先將多層堆疊材料生長在基底或轉移到基底上，并在其上表面鍍一層金作為傳輸層；然后使用頻域熱反射法平臺測量測試樣品，采集100Hz?105Hz范圍內一系列頻率點下的探測光與泵浦光間的相位差；然后將多層堆疊材料視作由等價熱導率keq、等價體積比熱Ceq和總厚度Ltot描述的單層等價層，給定keq、Ceq的初始值，使用多層導熱模型，對測得的相位差進行非線性擬合，不斷改變keq、Ceq，經過多次迭代后，選取相位差的測量值和理論值間均方誤差最小時的keq作為最終的等價熱導率，最后用Ltot與等價熱導率的比值作為堆疊材料總熱阻。本發明數據處理過程中僅需堆疊材料的總厚度，測量方法簡單易用。

本發明授權基于熱反射法的亞微米級多層堆疊材料總熱阻測量方法在權利要求書中公布了：1.一種基于熱反射法的亞微米級多層堆疊材料總熱阻測量方法，其特征在于，該方法包括如下步驟：步驟一：將總厚度為亞微米級的多層堆疊材料生長在基底上或轉移到基底上，且在所述多層堆疊材料的上表面鍍一層金作為傳輸層，得到測試樣品；所述基底的熱導率大于30Wm·K；步驟二：使用泵浦光調制頻率范圍為100Hz-105Hz、泵浦光和探測光的光斑半徑幾何平均值不小于10μm的頻域熱反射法平臺測量所述測試樣品，采集一系列頻率點下的探測光與泵浦光間的相位差信號；步驟三：將多層堆疊材料視作由等價熱導率keq、等價體積比熱Ceq和總厚度Ltot描述的單層的等價層，給定等價熱導率keq、等價體積比熱Ceq的初始值，使用多層導熱模型，對步驟二中測得的一系列頻率點下的相位差信號進行雙參數非線性擬合，通過迭代過程不斷改變keq、Ceq的數值，選取相位差的測量值和由多層導熱模型計算的理論值間均方誤差最小時的keq作為最終的等價熱導率；步驟四：計算多層堆疊材料的總厚度和步驟三得到的最終的等價熱導率的比值，即為堆疊材料總熱阻。

如需購買、轉讓、實施、許可或投資類似專利技術，可聯系本專利的申請人或專利權人浙江大學，其通訊地址為：310058 浙江省杭州市西湖區余杭塘路866號；或者聯系龍圖騰網官方客服，聯系龍圖騰網可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網”。