買專利賣專利找龍圖騰，真高效！ 查專利查商標(biāo)用IPTOP,全免費！專利年費監(jiān)控用IP管家,真方便！

龍圖騰網(wǎng)恭喜之江實驗室申請的專利一種矢量磁測計定姿方法、裝置、存儲介質(zhì)及電子設(shè)備獲國家發(fā)明授權(quán)專利權(quán)，本發(fā)明授權(quán)專利權(quán)由國家知識產(chǎn)權(quán)局授予，授權(quán)公告號為：CN119555022B 。

龍圖騰網(wǎng)通過國家知識產(chǎn)權(quán)局官網(wǎng)在2025-04-18發(fā)布的發(fā)明授權(quán)授權(quán)公告中獲悉：該發(fā)明授權(quán)的專利申請?zhí)?專利號為：202510079138.3，技術(shù)領(lǐng)域涉及：G01C1/00；該發(fā)明授權(quán)一種矢量磁測計定姿方法、裝置、存儲介質(zhì)及電子設(shè)備是由孫沁璇;施航;繆銳;朱琦;劉洋;袁勇;龐心健設(shè)計研發(fā)完成，并于2025-01-17向國家知識產(chǎn)權(quán)局提交的專利申請。

本一種矢量磁測計定姿方法、裝置、存儲介質(zhì)及電子設(shè)備在說明書摘要公布了：本說明書公開了一種矢量磁測計定姿方法、裝置、存儲介質(zhì)及電子設(shè)備，獲取參考磁測計在第一位置的量測磁場強度，以設(shè)定角度多次旋轉(zhuǎn)待測磁測計，獲取各次旋轉(zhuǎn)后待測磁測計在第二位置的量測磁場強度。根據(jù)參考磁測計在第一位置的量測磁場強度、各次旋轉(zhuǎn)后待測磁測計在第二位置的量測磁場強度、第一參數(shù)和第二參數(shù)，構(gòu)建目標(biāo)函數(shù)。在本說明書中，第一參數(shù)為未旋轉(zhuǎn)時待測磁測計的坐標(biāo)系和參考磁測計的坐標(biāo)系之間的相對角度，第二參數(shù)為第一位置和第二位置的矢量磁場差。通過將待測磁測計多次旋轉(zhuǎn)，建立起參考磁測計和待測磁測計坐標(biāo)系的測量結(jié)果之間的等量關(guān)系，求解第一參數(shù)，確定出待定坐標(biāo)系相對于參考磁測計的坐標(biāo)系的旋轉(zhuǎn)姿態(tài)。

本發(fā)明授權(quán)一種矢量磁測計定姿方法、裝置、存儲介質(zhì)及電子設(shè)備在權(quán)利要求書中公布了：1.一種矢量磁測計定姿方法，其特征在于，包括：將參考磁測計和待測磁測計水平調(diào)平，獲取所述參考磁測計在第一位置的量測磁場強度；以設(shè)定角度多次旋轉(zhuǎn)待測磁測計，獲取各次旋轉(zhuǎn)后所述待測磁測計在第二位置的量測磁場強度，所述第一位置和所述第二位置為非均勻背景磁場的不同位置，為第k次旋轉(zhuǎn)時的設(shè)定角度；根據(jù)所述參考磁測計在第一位置的量測磁場強度、各次旋轉(zhuǎn)后所述待測磁測計在第二位置的量測磁場強度、第一參數(shù)和第二參數(shù)，構(gòu)建目標(biāo)函數(shù)，所述第一參數(shù)為未旋轉(zhuǎn)時所述待測磁測計的坐標(biāo)系和所述參考磁測計的坐標(biāo)系之間的相對角度，所述第二參數(shù)為所述第一位置和所述第二位置之間的矢量磁場差；根據(jù)所述目標(biāo)函數(shù)的求解結(jié)果，得到所述第一參數(shù)的值。

如需購買、轉(zhuǎn)讓、實施、許可或投資類似專利技術(shù)，可聯(lián)系本專利的申請人或?qū)＠麢?quán)人之江實驗室，其通訊地址為：311121 浙江省杭州市余杭區(qū)中泰街道科創(chuàng)大道之江實驗室；或者聯(lián)系龍圖騰網(wǎng)官方客服，聯(lián)系龍圖騰網(wǎng)可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網(wǎng)”。