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龍圖騰網(wǎng)恭喜中國(guó)電子科技集團(tuán)公司第二十九研究所申請(qǐng)的專(zhuān)利一種基于異常監(jiān)測(cè)的干涉儀內(nèi)校正方法獲國(guó)家發(fā)明授權(quán)專(zhuān)利權(quán)，本發(fā)明授權(quán)專(zhuān)利權(quán)由國(guó)家知識(shí)產(chǎn)權(quán)局授予，授權(quán)公告號(hào)為：CN115079085B 。

龍圖騰網(wǎng)通過(guò)國(guó)家知識(shí)產(chǎn)權(quán)局官網(wǎng)在2025-04-15發(fā)布的發(fā)明授權(quán)授權(quán)公告中獲悉：該發(fā)明授權(quán)的專(zhuān)利申請(qǐng)?zhí)?專(zhuān)利號(hào)為：202210574474.1，技術(shù)領(lǐng)域涉及：G01S3/14；該發(fā)明授權(quán)一種基于異常監(jiān)測(cè)的干涉儀內(nèi)校正方法是由夏校朋;秦俊舉;呂樂(lè)群;邸曉曉設(shè)計(jì)研發(fā)完成，并于2022-05-25向國(guó)家知識(shí)產(chǎn)權(quán)局提交的專(zhuān)利申請(qǐng)。

本一種基于異常監(jiān)測(cè)的干涉儀內(nèi)校正方法在說(shuō)明書(shū)摘要公布了：本發(fā)明公開(kāi)了一種基于異常監(jiān)測(cè)的干涉儀內(nèi)校正方法，包括以下步驟：S1、在設(shè)備出廠(chǎng)之前，對(duì)設(shè)備進(jìn)行一段時(shí)間的預(yù)熱，預(yù)熱過(guò)后進(jìn)行多次內(nèi)校正操作，得到溫度監(jiān)控芯片在不同溫度時(shí)對(duì)應(yīng)的內(nèi)校正表Mi；S2、在設(shè)備出廠(chǎng)之后，正常工作之前進(jìn)行第一次內(nèi)校正操作，獲得并應(yīng)用該內(nèi)校正表A，并記錄下此時(shí)溫度監(jiān)控芯片的溫度Ti；S3、在一定條件下觸發(fā)新的內(nèi)校正操作；S4、新的內(nèi)校正操作為：對(duì)隨機(jī)抽取的幾個(gè)頻點(diǎn)進(jìn)行內(nèi)校正后，將內(nèi)校正結(jié)果C與內(nèi)校正表A以及溫度Ti時(shí)對(duì)應(yīng)的內(nèi)校正表Mi進(jìn)行對(duì)應(yīng)頻點(diǎn)校正數(shù)據(jù)的比較，根據(jù)比較結(jié)果修改并應(yīng)用內(nèi)校正表A；S5、重復(fù)步驟S3～S4，直至設(shè)備結(jié)束運(yùn)行。本發(fā)明極大提高了系統(tǒng)對(duì)溫度變化的適應(yīng)性。

本發(fā)明授權(quán)一種基于異常監(jiān)測(cè)的干涉儀內(nèi)校正方法在權(quán)利要求書(shū)中公布了：1.一種基于異常監(jiān)測(cè)的干涉儀內(nèi)校正方法，其特征在于，包括以下步驟：S1、在設(shè)備出廠(chǎng)之前，對(duì)設(shè)備進(jìn)行一段時(shí)間的預(yù)熱，預(yù)熱過(guò)后進(jìn)行多次內(nèi)校正操作，得到溫度監(jiān)控芯片不同溫度時(shí)對(duì)應(yīng)的內(nèi)校正表Mi；S2、在設(shè)備出廠(chǎng)之后，正常工作之前進(jìn)行第一次內(nèi)校正操作，獲得并應(yīng)用內(nèi)校正表A，并記錄下此時(shí)溫度監(jiān)控芯片的溫度Ti；S3、在一定條件下觸發(fā)新的內(nèi)校正操作；S4、新的內(nèi)校正操作為：對(duì)隨機(jī)抽取的幾個(gè)頻點(diǎn)進(jìn)行內(nèi)校正后，將內(nèi)校正結(jié)果C與內(nèi)校正表A以及溫度監(jiān)控芯片溫度為T(mén)i時(shí)對(duì)應(yīng)的內(nèi)校正表Mi進(jìn)行對(duì)應(yīng)頻點(diǎn)校正數(shù)據(jù)的比較，根據(jù)比較結(jié)果修改內(nèi)校正表A并應(yīng)用；S5、重復(fù)步驟S3~S4，直至設(shè)備結(jié)束運(yùn)行；所述內(nèi)校正為抽取一些頻點(diǎn)進(jìn)行內(nèi)校正，抽取方式為在工作頻段范圍內(nèi)隨機(jī)抽取，以保證每個(gè)頻點(diǎn)被抽到的概率相同，同時(shí)保證經(jīng)過(guò)多次內(nèi)校正抽取時(shí)能夠覆蓋所有的工作頻點(diǎn)；所述比較的方法具體為：當(dāng)|C-A|Th且|C-Mi|Th時(shí)，Th為顯著性閾值，則應(yīng)重新啟動(dòng)一個(gè)完整內(nèi)校正，得到內(nèi)校正表B，用來(lái)替換原內(nèi)校正表A；當(dāng)|C-A|=Th時(shí)，內(nèi)校正表A保持不變；當(dāng)|C-A|Th且|C-Mi|=Th時(shí)，不再進(jìn)行完整的內(nèi)校正，直接使用與溫度監(jiān)控芯片溫度Ti相對(duì)應(yīng)的內(nèi)校正表Mi代替內(nèi)校正表A；所述完整內(nèi)校正為對(duì)所有工作頻段范圍內(nèi)的每一個(gè)頻點(diǎn)都進(jìn)行一次內(nèi)校正。

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