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恭喜西安電子科技大學郭謙獲國家專利權(quán)

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龍圖騰網(wǎng)恭喜西安電子科技大學申請的專利一種基于布里淵散射的材料彈光系數(shù)測量裝置及方法獲國家發(fā)明授權(quán)專利權(quán),本發(fā)明授權(quán)專利權(quán)由國家知識產(chǎn)權(quán)局授予,授權(quán)公告號為:CN115684087B 。

龍圖騰網(wǎng)通過國家知識產(chǎn)權(quán)局官網(wǎng)在2025-04-15發(fā)布的發(fā)明授權(quán)授權(quán)公告中獲悉:該發(fā)明授權(quán)的專利申請?zhí)?專利號為:202211261095.3,技術(shù)領(lǐng)域涉及:G01N21/45;該發(fā)明授權(quán)一種基于布里淵散射的材料彈光系數(shù)測量裝置及方法是由郭謙;王石語;蔡德芳;李兵斌;尚佩瑾;李哲遠;黃楊金;張寧寧設(shè)計研發(fā)完成,并于2022-10-14向國家知識產(chǎn)權(quán)局提交的專利申請。

一種基于布里淵散射的材料彈光系數(shù)測量裝置及方法在說明書摘要公布了:本發(fā)明公開了一種基于布里淵散射的材料彈光系數(shù)測量裝置及方法,該裝置包括:入射光產(chǎn)生模塊用于產(chǎn)生測量激光并將其轉(zhuǎn)化為圓偏振光;光束變換模塊用于將圓偏振光轉(zhuǎn)化為第一預(yù)設(shè)偏振方向的線偏振光后進行準直和縮束,使得到的入射光從待測樣品的第一表面入射;散射光收集模塊用于獲取在待測樣品中發(fā)生布里淵效應(yīng)而產(chǎn)生的散射光,并在散射光由第二表面出射后,將與自身光軸方向平行的散射光聚焦于F?P干涉儀的孔徑處;F?P干涉儀用于利用散射光形成等傾干涉,并對干涉后的散射光進行成像,通過測量得到的多張布里淵散射譜,確定待測樣品的彈光系數(shù)。本發(fā)明縮小了大立體角帶來的彈光系數(shù)誤差,有利于測量得到精度更高的彈光系數(shù)。

本發(fā)明授權(quán)一種基于布里淵散射的材料彈光系數(shù)測量裝置及方法在權(quán)利要求書中公布了:1.一種基于布里淵散射的材料彈光系數(shù)測量裝置,其特征在于,包括:入射光產(chǎn)生模塊、光束變換模塊、透明的待測樣品、散射光收集模塊和F-P干涉儀,其中,所述入射光產(chǎn)生模塊、所述光束變換模塊、所述散射光收集模塊和所述F-P干涉儀的光軸共面;所述入射光產(chǎn)生模塊,用于產(chǎn)生測量激光,并將所述測量激光轉(zhuǎn)化為圓偏振光;所述光束變換模塊,用于將所述圓偏振光轉(zhuǎn)化為第一預(yù)設(shè)偏振方向的線偏振光后,對所述線偏振光進行準直和縮束,使得到的入射光從所述待測樣品的第一表面入射;所述入射光產(chǎn)生模塊與所述光束變換模塊位于同一光軸,所述待測樣品傾斜設(shè)置于所述光束變換模塊和所述散射光收集模塊之間;所述散射光收集模塊,用于獲取在所述待測樣品中發(fā)生布里淵效應(yīng)而產(chǎn)生的散射光,并在所述散射光經(jīng)待測樣品的第二表面出射后,將散射體積內(nèi)與自身光軸方向平行的散射光聚焦于所述F-P干涉儀的孔徑處;所述F-P干涉儀,用于利用所述散射光形成等傾干涉,并對干涉后的散射光進行成像,通過測量得到的多張布里淵散射譜確定所述待測樣品的彈光系數(shù);當垂直散射或平板散射時,所述光束變換模塊包括:第二偏振片、第三透鏡、第四透鏡和第一光闌,所述第二偏振片、第三透鏡、第四透鏡和第一光闌沿所述圓偏振光的傳播方向依次設(shè)置;其中,所述第二偏振片,用于將所述圓偏振光轉(zhuǎn)化為第一預(yù)設(shè)偏振方向的第二子光束,所述第一預(yù)設(shè)偏振方向為所述入射光的電位移矢量方向;所述第三透鏡與所述第四透鏡共焦點,用于對所述第二子光束進行準直及縮束;所述第一光闌,用于限制經(jīng)過準直及縮束后的第二子光束的大小,得到入射光;所述入射光由所述待測樣品的第一表面入射,在所述待測樣品中發(fā)生布里淵效應(yīng),產(chǎn)生的散射光由所述待測樣品的第二表面出射;所述待測樣品的第一表面與第二表面平行,所述第一表面的法線與所述光束變換模塊的光軸及所述散射光收集模塊的光軸共面。

如需購買、轉(zhuǎn)讓、實施、許可或投資類似專利技術(shù),可聯(lián)系本專利的申請人或?qū)@麢?quán)人西安電子科技大學,其通訊地址為:710071 陜西省西安市太白南路2號;或者聯(lián)系龍圖騰網(wǎng)官方客服,聯(lián)系龍圖騰網(wǎng)可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網(wǎng)”。

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