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龍圖騰網(wǎng)獲悉北京大學(xué)申請的專利一種半導(dǎo)體材料中施主束縛激子雙電子躍遷速率的測量方法獲國家發(fā)明授權(quán)專利權(quán)，本發(fā)明授權(quán)專利權(quán)由國家知識產(chǎn)權(quán)局授予，授權(quán)公告號為：CN119290825B 。

龍圖騰網(wǎng)通過國家知識產(chǎn)權(quán)局官網(wǎng)在2025-04-04發(fā)布的發(fā)明授權(quán)授權(quán)公告中獲悉：該發(fā)明授權(quán)的專利申請?zhí)?專利號為：202411833261.1，技術(shù)領(lǐng)域涉及：G01N21/63；該發(fā)明授權(quán)一種半導(dǎo)體材料中施主束縛激子雙電子躍遷速率的測量方法是由唐寧;李國平;沈波;付雷;陳帥宇;張邇翡設(shè)計(jì)研發(fā)完成，并于2024-12-13向國家知識產(chǎn)權(quán)局提交的專利申請。

本一種半導(dǎo)體材料中施主束縛激子雙電子躍遷速率的測量方法在說明書摘要公布了：本發(fā)明公開了一種半導(dǎo)體材料中施主束縛激子雙電子躍遷速率的測量方法，屬于半導(dǎo)體材料的測量表征領(lǐng)域。該測量方法包括：1、由穩(wěn)態(tài)光致發(fā)光光譜測量各溫度下半導(dǎo)體材料中施主束縛激子峰的峰強(qiáng)和對應(yīng)雙電子躍遷峰的峰強(qiáng)；2、由時間分辨光致發(fā)光光譜測量各溫度下施主束縛激子峰的壽命；3、由推得施主束縛激子峰的量子效率，結(jié)合推得施主束縛激子的輻射復(fù)合壽命；4、由雙電子躍遷峰和施主束縛激子峰的相對強(qiáng)度除以施主束縛激子輻射復(fù)合壽命,得各溫度下施主束縛激子的雙電子躍遷速率。本發(fā)明解決了雙電子躍遷速率難以測量的問題，能夠快速準(zhǔn)確獲得雙電子躍遷速率隨溫度的變化規(guī)律，對研究施主束縛激子及其雙電子躍遷物理性質(zhì)具有重要價值。

本發(fā)明授權(quán)一種半導(dǎo)體材料中施主束縛激子雙電子躍遷速率的測量方法在權(quán)利要求書中公布了：1.一種半導(dǎo)體材料中施主束縛激子雙電子躍遷速率的測量方法，其特征在于，包括以下步驟：步驟一：利用變溫穩(wěn)態(tài)光致發(fā)光光譜測量半導(dǎo)體材料在不同溫度下的穩(wěn)態(tài)光致發(fā)光光譜曲線，并提取各溫度下施主束縛激子峰的積分強(qiáng)度以及該施主束縛激子對應(yīng)的雙電子躍遷峰的積分強(qiáng)度；步驟二：利用變溫時間分辨光致發(fā)光光譜測量半導(dǎo)體材料在不同溫度下施主束縛激子峰峰位處的單色衰減曲線，并提取各溫度下施主束縛激子峰的壽命；步驟三：由步驟一獲得的施主束縛激子峰的積分強(qiáng)度推得施主束縛激子峰的量子效率，再由施主束縛激子峰的量子效率和步驟二獲得的施主束縛激子峰壽命推得各溫度下施主束縛激子的輻射復(fù)合壽命；步驟四：由步驟一獲得的各溫度下施主束縛激子峰的積分強(qiáng)度、該施主束縛激子對應(yīng)的雙電子躍遷峰的積分強(qiáng)度以及步驟三獲得的各溫度下施主束縛激子的輻射復(fù)合壽命,根據(jù)式9計(jì)算得到各溫度下施主束縛激子的雙電子躍遷速率： 9。

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