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龍圖騰網恭喜阿貝銳納儀器有限公司申請的專利在多個空間方向高分辨率定位單個染料分子的方法和設備獲國家發明授權專利權，本發明授權專利權由國家知識產權局授予，授權公告號為：CN116745678B 。

龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-03-21發布的發明授權授權公告中獲悉：該發明授權的專利申請號/專利號為：202280010063.8，技術領域涉及：G02B21/00；該發明授權在多個空間方向高分辨率定位單個染料分子的方法和設備是由R·施密特設計研發完成，并于2022-01-13向國家知識產權局提交的專利申請。

本在多個空間方向高分辨率定位單個染料分子的方法和設備在說明書摘要公布了：本發明涉及MINFLUX納米顯微術。本發明改進了孤立熒光團的三維定位。根據MINFLUX原理，使用3D激發圓環8將定位分為一系列單獨的步驟，來改進利用孤立的可激發熒光團4的熒光光子來進行三維定位，其中在一個步驟中確定熒光團的軸向位置或側向位置。在此，對軸向位置更精確的了解會提高后續側向定位的質量，反之亦然。三維定位通過以下方法進一步改進：該方法通過用3D激發圓環8掃描軸向掃描范圍并優選地通過形成矢量和對測量的強度或光子數進行后續評估來進行軸向定位。

本發明授權在多個空間方向高分辨率定位單個染料分子的方法和設備在權利要求書中公布了：1.一種通過用具有中心局部最小值46的3D激發圓環8掃描可激發熒光團4以高分辨率地確定所述可激發熒光團4在樣本中三個空間方向上的位置的方法，其中，在軸向定位步驟中，將所述中心局部最小值46按順序放置在穿過所述可激發熒光團4的估計位置16延伸的掃描模式軸線28上的兩個軸向樣本位置15、15’處，其中，這一對軸向樣本位置15、15’包圍所述可激發熒光團4的估計位置16，其中，在所述軸向定位步驟中，針對所述軸向樣本位置15、15’中的每個軸向樣本位置測量由所述可激發熒光團4發射的熒光，并將測量值分配給相應的所述軸向樣本位置15、15’，其中，在所述軸向定位步驟中，根據分配給所述軸向樣本位置15、15’的所述測量值來確定所述可激發熒光團4的軸向位置的新估計，其特征在于，在側向定位步驟中，僅在垂直于所述掃描模式軸線28定向的掃描模式平面29中，將所述中心局部最小值46按順序放置于在一個或更多個先前執行的步驟中估計的所述可激發熒光團4的位置16周圍布置的至少三個側向樣本位置31處，其中，在所述側向定位步驟中，針對所述側向樣本位置31中的每個側向樣本位置測量由所述可激發熒光團4發射的熒光，并將測量值分配給相應的側向樣本位置31，其中，在所述側向定位步驟中，根據分配給所述側向樣本位置31的所述測量值來確定所述可激發熒光團4的側向位置的新估計。

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