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恭喜湖南大學(xué)龍柳獲國(guó)家專利權(quán)

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龍圖騰網(wǎng)恭喜湖南大學(xué)申請(qǐng)的專利考慮驅(qū)動(dòng)電壓主動(dòng)調(diào)節(jié)的混合器件結(jié)溫波動(dòng)平滑控制方法獲國(guó)家發(fā)明授權(quán)專利權(quán),本發(fā)明授權(quán)專利權(quán)由國(guó)家知識(shí)產(chǎn)權(quán)局授予,授權(quán)公告號(hào)為:CN118157444B

龍圖騰網(wǎng)通過國(guó)家知識(shí)產(chǎn)權(quán)局官網(wǎng)在2025-03-21發(fā)布的發(fā)明授權(quán)授權(quán)公告中獲悉:該發(fā)明授權(quán)的專利申請(qǐng)?zhí)?專利號(hào)為:202410237806.6,技術(shù)領(lǐng)域涉及:H02M1/08;該發(fā)明授權(quán)考慮驅(qū)動(dòng)電壓主動(dòng)調(diào)節(jié)的混合器件結(jié)溫波動(dòng)平滑控制方法是由龍柳;肖凡;涂春鳴;白丹;郭祺;肖標(biāo);韓碩設(shè)計(jì)研發(fā)完成,并于2024-03-01向國(guó)家知識(shí)產(chǎn)權(quán)局提交的專利申請(qǐng)。

考慮驅(qū)動(dòng)電壓主動(dòng)調(diào)節(jié)的混合器件結(jié)溫波動(dòng)平滑控制方法在說明書摘要公布了:本發(fā)明公開了一種考慮驅(qū)動(dòng)電壓主動(dòng)調(diào)節(jié)的混合器件結(jié)溫波動(dòng)平滑控制方法,包括以下步驟:步驟S1、設(shè)置負(fù)載電流后,通過損耗模型計(jì)算實(shí)際所給范圍內(nèi)不同驅(qū)動(dòng)電壓下的MOSFET與IGBT損耗;步驟S2、以負(fù)載電流有效值作為限制條件,判斷變流器工況屬于輕載或是重載;步驟S3、根據(jù)判定的負(fù)載工況進(jìn)行驅(qū)動(dòng)電壓的主動(dòng)調(diào)節(jié):若為輕載,則使SiCMOSFET、SiIGBT的實(shí)際驅(qū)動(dòng)電壓等于使混合器件損耗最大化的驅(qū)動(dòng)電壓,若為重載,SiCMOSFET、SiIGBT的實(shí)際驅(qū)動(dòng)電壓等于使混合器件損耗最小化的驅(qū)動(dòng)電壓。本發(fā)明能夠?qū)崿F(xiàn)減小混合器件在負(fù)載變化時(shí)的結(jié)溫波動(dòng)并降低器件總損耗。

本發(fā)明授權(quán)考慮驅(qū)動(dòng)電壓主動(dòng)調(diào)節(jié)的混合器件結(jié)溫波動(dòng)平滑控制方法在權(quán)利要求書中公布了:1.一種考慮驅(qū)動(dòng)電壓主動(dòng)調(diào)節(jié)的混合器件結(jié)溫波動(dòng)平滑控制方法,其特征在于,包括以下步驟:步驟S1、設(shè)置負(fù)載電流后,通過損耗模型計(jì)算實(shí)際所給范圍內(nèi)不同驅(qū)動(dòng)電壓下的MOSFET與IGBT損耗,確定使MOSFET損耗最大化與最小化的驅(qū)動(dòng)電壓模式,記使混合器件損耗最大化的驅(qū)動(dòng)電壓模式為:VGM=Vloss_max_MOS、VGT=Vloss_max_IGBT,損耗最小化為VGM=Vloss_min_MOS、VGT=Vloss_min_IGBT,并通過熱網(wǎng)絡(luò)模型得到對(duì)應(yīng)的器件穩(wěn)態(tài)結(jié)溫;步驟S2、以負(fù)載電流有效值作為限制條件,判斷變流器工況屬于輕載或是重載;步驟S3、根據(jù)判定的負(fù)載工況進(jìn)行驅(qū)動(dòng)電壓的主動(dòng)調(diào)節(jié):若為輕載,則采用VGM=Vloss_max_MOS、VGT=Vloss_max_IGBT模式使SiCMOSFET損耗最高,達(dá)到抬升SiCMOSFET結(jié)溫的目標(biāo);若為重載,則采用VGM=Vloss_min_MOS、VGT=Vloss_min_IGBT模式以最小化SiCMOSFET損耗來降低其結(jié)溫;式中,VGM、VGT分別為SiCMOSFET、SiIGBT的實(shí)際驅(qū)動(dòng)電壓;Vloss_max_MOS、Vloss_max_IGBT分別為使混合器件中SiCMOSFET、SiIGBT損耗最大化的驅(qū)動(dòng)電壓,Vloss_min_MOS、Vloss_min_IGBT分別為使混合器件中SiCMOSFET、SiIGBT損耗最小化的驅(qū)動(dòng)電壓。

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