恭喜帕拉斯顆粒及激光測量技術(shù)公司M·韋斯獲國家專利權(quán)
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龍圖騰網(wǎng)恭喜帕拉斯顆粒及激光測量技術(shù)公司申請(qǐng)的專利用于確定氣溶膠的粒徑分布的方法和氣溶膠測量設(shè)備獲國家發(fā)明授權(quán)專利權(quán),本發(fā)明授權(quán)專利權(quán)由國家知識(shí)產(chǎn)權(quán)局授予,授權(quán)公告號(hào)為:CN113874707B 。
龍圖騰網(wǎng)通過國家知識(shí)產(chǎn)權(quán)局官網(wǎng)在2025-06-20發(fā)布的發(fā)明授權(quán)授權(quán)公告中獲悉:該發(fā)明授權(quán)的專利申請(qǐng)?zhí)?專利號(hào)為:202080040059.7,技術(shù)領(lǐng)域涉及:G01N15/0205;該發(fā)明授權(quán)用于確定氣溶膠的粒徑分布的方法和氣溶膠測量設(shè)備是由M·韋斯;F·維斯;A·K·戈斯曼設(shè)計(jì)研發(fā)完成,并于2020-05-25向國家知識(shí)產(chǎn)權(quán)局提交的專利申請(qǐng)。
本用于確定氣溶膠的粒徑分布的方法和氣溶膠測量設(shè)備在說明書摘要公布了:本發(fā)明涉及一種借助氣溶膠測量設(shè)備來確定氣溶膠的粒徑分布的方法和氣溶膠測量設(shè)備。在測量單元中利用光束照射流過測量單元的氣溶膠的氣溶膠顆粒。由檢測器記錄散射光,從而通過光譜按照強(qiáng)度檢測氣溶膠顆粒的光信號(hào)。由此得到表示粒徑分布的光信號(hào)的大小分布。將干燥的氣溶膠顆粒的已知的標(biāo)準(zhǔn)粒徑分布匹配于測量的粒徑分布,從而這樣消除對(duì)測量的粒徑分布的濕度影響。
本發(fā)明授權(quán)
如需購買、轉(zhuǎn)讓、實(shí)施、許可或投資類似專利技術(shù),可聯(lián)系本專利的申請(qǐng)人或?qū)@麢?quán)人帕拉斯顆粒及激光測量技術(shù)公司,其通訊地址為:德國卡爾斯魯厄;或者聯(lián)系龍圖騰網(wǎng)官方客服,聯(lián)系龍圖騰網(wǎng)可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網(wǎng)”。
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