恭喜杭州電子科技大學(xué)雒鵬程獲國家專利權(quán)
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龍圖騰網(wǎng)恭喜杭州電子科技大學(xué)申請的專利基于SROCRN網(wǎng)絡(luò)的低分辨率文本圖像識(shí)別方法獲國家發(fā)明授權(quán)專利權(quán),本發(fā)明授權(quán)專利權(quán)由國家知識(shí)產(chǎn)權(quán)局授予,授權(quán)公告號(hào)為:CN112733716B 。
龍圖騰網(wǎng)通過國家知識(shí)產(chǎn)權(quán)局官網(wǎng)在2025-06-17發(fā)布的發(fā)明授權(quán)授權(quán)公告中獲悉:該發(fā)明授權(quán)的專利申請?zhí)?專利號(hào)為:202110030021.8,技術(shù)領(lǐng)域涉及:G06V20/62;該發(fā)明授權(quán)基于SROCRN網(wǎng)絡(luò)的低分辨率文本圖像識(shí)別方法是由雒鵬程;胡更生設(shè)計(jì)研發(fā)完成,并于2021-01-11向國家知識(shí)產(chǎn)權(quán)局提交的專利申請。
本基于SROCRN網(wǎng)絡(luò)的低分辨率文本圖像識(shí)別方法在說明書摘要公布了:本發(fā)明公開基于SROCRN網(wǎng)絡(luò)的低分辨率文本圖像識(shí)別方法。本發(fā)明方法針對低分辨率文本圖像進(jìn)行OCR識(shí)別時(shí)準(zhǔn)確率較低的問題,將現(xiàn)存的圖像超分辨率重建網(wǎng)絡(luò)SRGAN與文本圖像OCR識(shí)別網(wǎng)絡(luò)CRNN進(jìn)行融合與改進(jìn),進(jìn)一步提出超分辨率圖像識(shí)別網(wǎng)絡(luò)SROCRN,從而解決了低分辨率文本圖像OCR識(shí)別的問題。結(jié)合改進(jìn)的超分辨率重建技術(shù)與圖像識(shí)別技術(shù)使用基于SROCRN網(wǎng)絡(luò)的低分辨率文本圖像識(shí)別方法對低分辨率的文本圖像進(jìn)行識(shí)別,解決了某些文本圖像在識(shí)別過程中因分辨率不夠而造成的識(shí)別與獲取文本序列困難的問題。該方法易于實(shí)現(xiàn),具有較好的識(shí)別效果。
本發(fā)明授權(quán)基于SROCRN網(wǎng)絡(luò)的低分辨率文本圖像識(shí)別方法在權(quán)利要求書中公布了:1.基于SROCRN網(wǎng)絡(luò)的低分辨率文本圖像識(shí)別方法,其特征在于該方法包括以下步驟: 步驟一、構(gòu)建SROCRN網(wǎng)絡(luò)模型的數(shù)據(jù)集: 1.1獲取若干分辨率為W×H的原始高分辨率文本圖像,并為其打好標(biāo)簽,然后分為A組與B組; 1.2將1.1中收集的A組與B組圖像分別進(jìn)行兩次圖像縮放變換,得到分辨率為14*W×14H的低分辨率圖像,并標(biāo)記為A-1組與B-1組; 1.3將1.2中的A組與A-1組標(biāo)記為訓(xùn)練集,B-1組標(biāo)記為測試集; 步驟二.構(gòu)建SROCRN網(wǎng)絡(luò),以識(shí)別低分辨率圖像中文字序列: SROCRN網(wǎng)絡(luò)包括超分辨率模塊和圖像識(shí)別模塊; 超分辨率模塊采用對抗網(wǎng)絡(luò),由生成器與判別器組成;生成器由卷積層,上采樣層,五層串聯(lián)的殘差模塊,兩層串聯(lián)的上采樣層組成,其中卷積層的輸入為A-1組低分辨率文本圖像;判別器由卷積層,激活層,五層串聯(lián)的殘差模塊,特征轉(zhuǎn)換層,全連接層構(gòu)成,其中卷積層的輸入為激活層的輸出和原始高分辨率文本圖像; 圖像識(shí)別模塊采用卷積網(wǎng)絡(luò)CNN與短時(shí)記憶網(wǎng)絡(luò)RNN結(jié)合的方式,由文本檢測CTPN模塊與CRNN模塊組成;CTPN模塊由VGG特征提取層、卷積層、BLSTM時(shí)序信息融合層、全連接層構(gòu)成,其中VGG特征提取層的輸入為超分辨率模塊的輸出;CRNN模塊由卷積層、池化層、RNN序列特征提取層、全連接層構(gòu)成,其中CRNN模塊的卷積層的輸入為CTPN模塊的輸出; 超分辨率模塊生成器中卷積層、上采樣層對訓(xùn)練集中圖像進(jìn)行卷積與激活操作提取特征圖,該操作按公式6與公式7進(jìn)行: Y=F2X=MAX0,w*F1X+b6 公式6中, X:1.3中的訓(xùn)練集圖像; F1:圖像的RGB通道分離函數(shù); F2:卷積操作的處理函數(shù); w:大小為f1×f1×n的卷積核,其中f1是卷積核的空間大小,n是卷積核的數(shù)量; b:n維向量; 公式7中, P:激活處理后的特征圖; Yi,j:卷積操作后圖像在i,j這一點(diǎn)的像素值; ai,j:1,+∞區(qū)間內(nèi)的固定參數(shù); 五層殘差模塊每個(gè)均由卷積層、歸一化層、激活層組成,進(jìn)一步提取擴(kuò)展特征圖的通道數(shù)量,其中卷積層與激活層按照公式6與7進(jìn)行;歸一化層按照公式8、9、10進(jìn)行: 公式8、9、10中, F3:歸一化處理函數(shù); P:上一層卷積后圖像的特征圖; u:上一層卷積后圖像的特征圖的均值; σ2:上一層卷積后圖像的特征圖的方差; ε:可變參數(shù); H:特征圖的寬度; W:特征圖的長度; 最后兩層串聯(lián)的上采樣層,對最后一個(gè)殘差模塊輸出的特征圖進(jìn)行4倍放大生成高分辨率圖像,上采樣層主要采用子像素周期性篩選的方法,按照公式11、12、13、14進(jìn)行: P1m,n,p=Pi,j,k11 p=k×r+i%r14 公式11、12、13、14中, P1:子像素篩選后的第m個(gè)特征圖在n,p這一點(diǎn)的像素值; P:上一層殘差結(jié)構(gòu)生成的第i個(gè)特征圖在j,k這一點(diǎn)的像素值; m、i:特征圖的通道序號(hào); r:特征圖上采樣的倍數(shù); n、p、j、k:特征圖的寬度與高度對應(yīng)的角標(biāo); 步驟三、利用步驟一數(shù)據(jù)集進(jìn)行步驟二SROCRN模型的訓(xùn)練、測試。
如需購買、轉(zhuǎn)讓、實(shí)施、許可或投資類似專利技術(shù),可聯(lián)系本專利的申請人或?qū)@麢?quán)人杭州電子科技大學(xué),其通訊地址為:310018 浙江省杭州市下沙高教園區(qū)2號(hào)大街;或者聯(lián)系龍圖騰網(wǎng)官方客服,聯(lián)系龍圖騰網(wǎng)可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網(wǎng)”。
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