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龍圖騰網恭喜中國航天科工集團第二研究院申請的專利雙路殘差結構神經網絡模型及圖像目標識別系統獲國家發明授權專利權，本發明授權專利權由國家知識產權局授予，授權公告號為：CN114399023B 。

龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-06-10發布的發明授權授權公告中獲悉：該發明授權的專利申請號/專利號為：202111540075.5，技術領域涉及：G06N3/0464；該發明授權雙路殘差結構神經網絡模型及圖像目標識別系統是由張金鵬;李嘉科;黃旭輝;馬喆;毛磊設計研發完成，并于2021-12-15向國家知識產權局提交的專利申請。

本雙路殘差結構神經網絡模型及圖像目標識別系統在說明書摘要公布了：本發明公開了一種雙路殘差結構神經網絡模型及圖像目標識別系統。該雙路殘差結構神經網絡模型包括至少兩個依次級聯的網絡單元；每一網絡單元均包括多個依次級聯的卷積神經網絡模塊；網絡單元的輸入端和輸出端間設置第一殘差支路；兩兩網絡單元間設置第二殘差支路；第一殘差支路的輸入和輸出均為待識別圖像；第二殘差支路的輸入和輸出均為前一網絡單元中任意一個卷積神經網絡模塊的輸出。本發明通過設置第一殘差支路和第二殘差支路的方式得到雙路殘差結構，能夠促進圖像特征的前向傳播和梯度的反向傳播，以彌補現有技術不能充分解決梯度彌散的問題，進而使得深度神經網絡的特征提取性能和目標分類性能獲得提升。

本發明授權雙路殘差結構神經網絡模型及圖像目標識別系統在權利要求書中公布了：1.一種雙路殘差結構神經網絡模型的構建方法，其特征在于，所述雙路殘差結構神經網絡模型包括：至少兩個依次級聯的網絡單元；每一網絡單元均包括多個依次級聯的卷積神經網絡模塊；所述網絡單元的輸入端和輸出端間設置第一殘差支路；兩兩網絡單元間設置第二殘差支路；所述第一殘差支路的輸入和輸出均為待識別圖像；所述第二殘差支路的輸入和輸出均為前一網絡單元中任意一個所述卷積神經網絡模塊的輸出；所述第二殘差支路用于將前一網絡單元中任意一個所述卷積神經網絡模塊的輸出疊加至后一網絡單元中的任一卷積神經網絡模塊進行卷積處理，以得到目標識別結果；其中，每一網絡單元均包括依次級聯的第一卷積神經網絡模塊、第二卷積神經網絡模塊和第三卷積神經網絡模塊；當前網絡單元中的所述第一卷積神經網絡模塊的輸入端與所述第三卷積神經網絡模塊的輸出端之間設置有第一殘差支路；所述當前網絡單元中的第二卷積神經網絡模塊的輸入端和與所述當前網絡單元級聯的下一網絡單元中的第一卷積神經網絡模塊的輸出端之間設置有第二殘差支路；所述當前網絡單元中的第一卷積神經網絡模塊的輸入為所述待識別圖像；所述第一殘差支路的輸出與所述當前網絡單元中所述第三卷積神經網絡模塊的輸出的疊加結果作為所述下一網絡單元中的第一卷積神經網絡模塊的輸入。

如需購買、轉讓、實施、許可或投資類似專利技術，可聯系本專利的申請人或專利權人中國航天科工集團第二研究院，其通訊地址為：100854 北京市海淀區永定路50號31號樓；或者聯系龍圖騰網官方客服，聯系龍圖騰網可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網”。