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龍圖騰網恭喜通用技術集團工程設計有限公司申請的專利基于羅德里格矩陣的相機檢校方法獲國家發明授權專利權，本發明授權專利權由國家知識產權局授予，授權公告號為：CN111854795B 。

龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-06-03發布的發明授權授權公告中獲悉：該發明授權的專利申請號/專利號為：202010028104.9，技術領域涉及：G01C25/00；該發明授權基于羅德里格矩陣的相機檢校方法是由劉明河;賈波;孫新城;馬泉池;韓玉成設計研發完成，并于2020-01-10向國家知識產權局提交的專利申請。

本基于羅德里格矩陣的相機檢校方法在說明書摘要公布了：本發明屬于攝影測量領域，尤其涉及基于羅德里格矩陣的相機檢校方法。其特征在于：1基于羅德里格矩陣的檢校外方位元素初值的獲取；2基于羅德里格矩陣的相機檢校參數迭代平差解算。本發明采用一種基于羅德里格矩陣的相機檢校方法，可以得到精度較高的檢校初值，并有效的減少平差解算時迭代次數，并避免了應用三角函數計算姿態角的問題。該方法解算出的相機檢校參數和采用傳統空間后方交會方法檢校結果近似相同，可知本發明有較高檢校精度。

本發明授權基于羅德里格矩陣的相機檢校方法在權利要求書中公布了：1.一種基于羅德里格矩陣的相機檢校方法，其特征在于：步驟1控制點布設：均勻布設一定數量控制點，并對控制點進行觀測獲取其高精度坐標Xi,Yi,Zi；步驟2影像獲取及像點坐標的量測：應用待檢校的相機獲取多幅帶控制點影像，并量測影像上控制點像點坐標xi,yi；步驟3計算相機檢校參數λi的初值： 計算λ初值，式中Xi,Yi,Zi和Xi-1,Yi-1,Zi-1為近似同一平面上相鄰的控制點；根據 計算a,b,c的初值，將λ和a,b,c帶入: 計算出XS,YS,ZS的初值；相機主距f初值選為相機焦距，主點和畸變參數初值為0；步驟4應用步驟3中給出的初值，基于羅德里格矩陣，應用空間后方交會方法迭代求解檢校參數，誤差方程為：V＝AX外+BX內+CAad-L式中：X外＝[ΔXs,ΔYs,ΔZs,Δa,Δb,Δc]；將旋轉矩陣R采用羅德里格矩陣表達，則系數矩陣A： a14,a15,a16,a24,a25,a26為： 式中：系數矩陣A中其它元素和B,C,L的值計算方法和傳統空間后方交會方法相同；步驟5迭代求解檢校參數，直到兩次檢校參數變化小于10-4，檢校結束。

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