買專利賣專利找龍圖騰，真高效！ 查專利查商標用IPTOP,全免費！專利年費監控用IP管家,真方便！

龍圖騰網恭喜中國測繪科學研究院申請的專利總初級生產力的反演方法及相關設備獲國家發明授權專利權，本發明授權專利權由國家知識產權局授予，授權公告號為：CN119558202B 。

龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-06-03發布的發明授權授權公告中獲悉：該發明授權的專利申請號/專利號為：202510114475.1，技術領域涉及：G06F30/27；該發明授權總初級生產力的反演方法及相關設備是由桑會勇;鄧啟睿;翟亮設計研發完成，并于2025-01-24向國家知識產權局提交的專利申請。

本總初級生產力的反演方法及相關設備在說明書摘要公布了：本申請公開了一種總初級生產力的反演方法及相關設備，涉及遙感數據處理技術領域，該方法包括：獲取目標區域內的地類純度數據、第一光譜數據、第二光譜數據和第一葉面積指數數據；根據地類純度數據，對第一光譜數據和第一葉面積指數數據進行篩選，得到第三光譜數據和第二葉面積指數數據；根據第三光譜數據和第二葉面積指數數據，建立葉面積指數反演模型；將第二光譜數據代入葉面積指數反演模型，得到目標葉面積指數數據；根據目標葉面積指數數據，確定目標區域的總初級生產力數據。本申請通過地類純度數據篩選低分辨率數據，并構建反演模型應用于高分辨率數據，實現了跨分辨率數據的有效過渡，進而提升了總初級生產力反演的精度。

本發明授權總初級生產力的反演方法及相關設備在權利要求書中公布了：1.一種總初級生產力的反演方法，其特征在于，包括：獲取目標區域內的地類純度數據、第一光譜數據、第二光譜數據和第一葉面積指數數據，其中，所述第一光譜數據、所述地類純度數據與所述第一葉面積指數數據的空間單位面積均為第一面積，所述第二光譜數據的空間單位面積為第二面積，所述第一面積大于所述第二面積，所述地類純度數據是用于表征所述目標區域內各類地表的純度或質量的數值數據；根據所述地類純度數據，對所述第一光譜數據和所述第一葉面積指數數據進行篩選，得到第三光譜數據和第二葉面積指數數據；根據所述第三光譜數據和所述第二葉面積指數數據，建立葉面積指數反演模型，其中，所述葉面積指數反演模型用于基于光譜數據推演葉面積指數數據；將所述第二光譜數據代入所述葉面積指數反演模型，得到目標葉面積指數數據；根據所述目標葉面積指數數據，確定所述目標區域的總初級生產力數據；對所述地類純度數據的獲取過程包括：獲取所述目標區域內的第一地類數據和第二地類數據，其中，所述第一地類數據的空間單位面積為所述第一面積，所述第二地類數據的空間單位面積為所述第二面積；根據所述第一地類數據與所述第二地類數據的對應關系，確定所述地類純度數據，其中，所述地類純度數據的空間單位面積為所述第一面積。

如需購買、轉讓、實施、許可或投資類似專利技術，可聯系本專利的申請人或專利權人中國測繪科學研究院，其通訊地址為：100036 北京市海淀區蓮花池西路28號；或者聯系龍圖騰網官方客服，聯系龍圖騰網可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網”。