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龍圖騰網(wǎng)恭喜悅芯科技股份有限公司申請的專利基于測試設備的存儲芯片個性化修復方法獲國家發(fā)明授權(quán)專利權(quán)，本發(fā)明授權(quán)專利權(quán)由國家知識產(chǎn)權(quán)局授予，授權(quán)公告號為：CN119889414B 。

龍圖騰網(wǎng)通過國家知識產(chǎn)權(quán)局官網(wǎng)在2025-06-03發(fā)布的發(fā)明授權(quán)授權(quán)公告中獲悉：該發(fā)明授權(quán)的專利申請?zhí)?專利號為：202510376906.1，技術(shù)領域涉及：G11C29/44；該發(fā)明授權(quán)基于測試設備的存儲芯片個性化修復方法是由潘志富;郭琦;薛如軍;張悅;楊愛民;朱超設計研發(fā)完成，并于2025-03-28向國家知識產(chǎn)權(quán)局提交的專利申請。

本基于測試設備的存儲芯片個性化修復方法在說明書摘要公布了：本發(fā)明涉及芯片測試技術(shù)領域，具體公開了基于測試設備的存儲芯片個性化修復方法，包括：分別獲取每顆存儲芯片在CP前段測試階段以及FT后段測試階段的失效單元電路集合；分別構(gòu)建失效單元電路集合對應的鄰接矩陣，并計算并集，再進行分割得到數(shù)據(jù)特征集合；對數(shù)據(jù)特征集合進行聚類分析，提取失效單元分布衍化規(guī)則，構(gòu)建衍化規(guī)則庫；計算滑動窗口中的失效單元分布和衍化規(guī)則元矩陣之間的皮爾遜相關分析，得到衍化分析的失效單元，并將該失效單元加入稀疏失效單元集合中進行正常出解分析，根據(jù)芯片冗余資源是否滿足預設出解條件判斷芯片是否為良品。本發(fā)明能夠一定程度解決不穩(wěn)定稀疏單元的問題，增加存儲芯片良率。

本發(fā)明授權(quán)基于測試設備的存儲芯片個性化修復方法在權(quán)利要求書中公布了：1.基于測試設備的存儲芯片個性化修復方法，其特征在于，包括以下步驟：失效單元提取：分別獲取每顆存儲芯片在CP前段測試階段以及FT后段測試階段的失效單元電路集合FCP和FFT；分別構(gòu)建失效單元電路集合FCP和FFT對應的鄰接矩陣和，計算，再按照存儲芯片結(jié)構(gòu)特點對矩陣ε進行分割得到數(shù)據(jù)特征集合；采用基于稀疏矩陣的譜聚類方法對數(shù)據(jù)特征集合進行聚類分析，提取失效單元分布衍化規(guī)則，構(gòu)建衍化規(guī)則庫，所述衍化規(guī)則庫包括衍化規(guī)則元矩陣和衍化方向矩陣；失效單元分析：采用窗口滑動法，計算滑動窗口中的失效單元分布和衍化規(guī)則元矩陣之間的皮爾遜相關分析，若相關性達到預設閾值則執(zhí)行衍化分析；根據(jù)衍化規(guī)則元矩陣和該窗口中所有失效單元分布，得到衍化分析的失效單元，并將該失效單元加入稀疏失效單元集合中；對所有稀疏失效單元集合進行正常出解分析，根據(jù)芯片冗余資源是否滿足預設出解條件判斷芯片是否為良品。

如需購買、轉(zhuǎn)讓、實施、許可或投資類似專利技術(shù)，可聯(lián)系本專利的申請人或?qū)＠麢?quán)人悅芯科技股份有限公司，其通訊地址為：230000 安徽省合肥市經(jīng)濟技術(shù)開發(fā)區(qū)宿松路3963號智能裝備科技園D1棟東側(cè)2層；或者聯(lián)系龍圖騰網(wǎng)官方客服，聯(lián)系龍圖騰網(wǎng)可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網(wǎng)”。