恭喜京東方科技集團(tuán)股份有限公司王子路獲國家專利權(quán)
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龍圖騰網(wǎng)恭喜京東方科技集團(tuán)股份有限公司申請的專利目標(biāo)檢測方法及裝置、存儲介質(zhì)及電子設(shè)備獲國家發(fā)明授權(quán)專利權(quán),本發(fā)明授權(quán)專利權(quán)由國家知識產(chǎn)權(quán)局授予,授權(quán)公告號為:CN114155567B 。
龍圖騰網(wǎng)通過國家知識產(chǎn)權(quán)局官網(wǎng)在2025-05-30發(fā)布的發(fā)明授權(quán)授權(quán)公告中獲悉:該發(fā)明授權(quán)的專利申請?zhí)?專利號為:202010933809.5,技術(shù)領(lǐng)域涉及:G06V40/16;該發(fā)明授權(quán)目標(biāo)檢測方法及裝置、存儲介質(zhì)及電子設(shè)備是由王子路設(shè)計(jì)研發(fā)完成,并于2020-09-08向國家知識產(chǎn)權(quán)局提交的專利申請。
本目標(biāo)檢測方法及裝置、存儲介質(zhì)及電子設(shè)備在說明書摘要公布了:本公開涉及圖像處理技術(shù)領(lǐng)域,具體涉及一種目標(biāo)檢測方法及裝置、計(jì)算機(jī)可讀存儲介質(zhì)及電子設(shè)備,方法包括:獲取輸入圖像,并采用第一卷積層和第二卷積層對輸入圖像進(jìn)行特征提取得到參考特征圖像;采用第三卷積層對參考特征圖像進(jìn)行特征提取得到第一目標(biāo)特征圖,并采用第四卷積層對第一目標(biāo)特征圖像進(jìn)行特征提取得到第二目標(biāo)特征圖像;獲取第一目標(biāo)特征圖像和第二目標(biāo)特征圖像上每一個點(diǎn)的參考預(yù)選圖像;在多個參考預(yù)選圖像中確定目標(biāo)預(yù)選圖像,并利用目標(biāo)檢測算法完成目標(biāo)檢測。本公開實(shí)施例的技術(shù)方案克服了現(xiàn)有技術(shù)中的目標(biāo)檢測方法浪費(fèi)計(jì)算資源、實(shí)時(shí)性較差的不足。
本發(fā)明授權(quán)目標(biāo)檢測方法及裝置、存儲介質(zhì)及電子設(shè)備在權(quán)利要求書中公布了:1.一種目標(biāo)檢測方法,其特征在于,包括:獲取輸入圖像,并采用第一卷積層和第二卷積層對所述輸入圖像進(jìn)行特征提取得到參考特征圖像;采用第三卷積層對所述參考特征圖像進(jìn)行特征提取得到第一目標(biāo)特征圖,并采用第四卷積層對第一目標(biāo)特征圖像進(jìn)行特征提取得到第二目標(biāo)特征圖像;獲取所述第一目標(biāo)特征圖像和第二目標(biāo)特征圖像上每一個點(diǎn)的參考預(yù)選圖像;在多個所述參考預(yù)選圖像中確定目標(biāo)預(yù)選圖像,并利用目標(biāo)檢測算法完成目標(biāo)檢測;其中第一卷積層和第二卷積層均為單模塊殘差卷積層,所述第三卷積層和所述第四卷積層為雙模塊殘差卷積層;所述單模塊殘差卷積層包括并行設(shè)計(jì)的第一卷積單元以及殘差網(wǎng)絡(luò)單元;所述雙模塊殘差卷積層包括串行設(shè)計(jì)的第二卷積單元和第三卷積單元,以及與第二卷積單元和第三卷積單元并行設(shè)計(jì)的殘差網(wǎng)絡(luò)單元。
如需購買、轉(zhuǎn)讓、實(shí)施、許可或投資類似專利技術(shù),可聯(lián)系本專利的申請人或?qū)@麢?quán)人京東方科技集團(tuán)股份有限公司,其通訊地址為:100015 北京市朝陽區(qū)酒仙橋路10號;或者聯(lián)系龍圖騰網(wǎng)官方客服,聯(lián)系龍圖騰網(wǎng)可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網(wǎng)”。
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