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龍圖騰網恭喜廣州長仁工業科技有限公司申請的專利一種磷銅球生產拋光檢測模型構建方法及系統獲國家發明授權專利權，本發明授權專利權由國家知識產權局授予，授權公告號為：CN119850626B 。

龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-05-30發布的發明授權授權公告中獲悉：該發明授權的專利申請號/專利號為：202510332273.4，技術領域涉及：G06T7/00；該發明授權一種磷銅球生產拋光檢測模型構建方法及系統是由姚宇蘢;楊勇;姚尚岷設計研發完成，并于2025-03-20向國家知識產權局提交的專利申請。

本一種磷銅球生產拋光檢測模型構建方法及系統在說明書摘要公布了：本發明屬于工業模塊領域，提供一種磷銅球生產拋光檢測模型構建方法及系統，包括步驟采集拋光桶頂部的光學圖像及光譜圖像；對光學圖像與光譜圖像進行空間對齊，確定磷銅球在光譜圖像中的第一位置，計算磷銅球在光學圖像中對應的第二位置；基于圓度閾值判斷磷銅球的幾何完整性；對所述第二位置的磷銅球采用灰度共生矩陣分析方法計算磷銅球表面的粗糙度指標，以評估拋光是否均勻；采用亮度直方圖分析方法計算磷銅球的光潔度均勻性，判斷其是否滿足拋光標準；當所述磷銅球的光潔度低于預設閾值時，調整拋光參數并繼續拋光，否則停止拋光并輸出檢測結果。

本發明授權一種磷銅球生產拋光檢測模型構建方法及系統在權利要求書中公布了：1.一種磷銅球生產拋光檢測模型構建方法，其特征在于，所述方法包括以下步驟：步驟S10，數據采集，采用工業相機獲取磷銅球在拋光桶頂部的光學圖像，采用短波紅外高光譜相機獲取拋光桶頂部的光譜圖像；步驟S20，對光學圖像與光譜圖像進行空間對齊，使二者在同一坐標系下進行分析；通過目標檢測算法確定磷銅球在光譜圖像中的第一位置，并基于光學圖像的坐標映射模型，計算磷銅球在光學圖像中對應的第二位置，確保同一磷銅球在兩個數據通道中的一致性；步驟S30，對所述第二位置的磷銅球采用橢圓擬合算法計算磷銅球的圓度，并基于圓度閾值判斷磷銅球的幾何完整性，當所述磷銅球的圓度未達到標準時，調整拋光參數并繼續研磨；步驟S40，對所述第二位置的磷銅球采用灰度共生矩陣分析方法計算磷銅球表面的粗糙度指標，以評估拋光是否均勻；采用亮度直方圖分析方法計算磷銅球的光潔度均勻性，判斷其是否滿足拋光標準；當所述磷銅球的光潔度低于預設閾值時，調整拋光參數并繼續拋光，否則停止拋光并輸出檢測結果；所述工業相機和所述短波紅外高光譜相機位置相對固定；所述對光學圖像與光譜圖像進行空間對齊包括：進行相機內參標定，采用棋盤格或標定板，分別標定光學相機和光譜相機的內參矩陣，包括焦距、主點坐標和鏡頭畸變系數；進行相機外參標定，確定光學相機與光譜相機之間的相對位置關系，即旋轉矩陣和平移向量，用于描述兩臺相機的坐標轉換，計算相機之間的單應性矩陣；采用計算出的旋轉矩陣和平移向量，將光譜圖像中的像素點轉換到光學圖像的坐標系下，確保兩者的空間位置匹配；再通過單應性變換，利用投影轉換矩陣計算光譜圖像中每個像素點在光學圖像中的對應位置，并進行重映射。

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