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龍圖騰網恭喜北京懷柔實驗室申請的專利高溫阻斷測試電路、測試裝置和測試方法獲國家發明授權專利權，本發明授權專利權由國家知識產權局授予，授權公告號為：CN119881584B 。

龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-05-30發布的發明授權授權公告中獲悉：該發明授權的專利申請號/專利號為：202510374465.1，技術領域涉及：G01R31/26；該發明授權高溫阻斷測試電路、測試裝置和測試方法是由唐新靈;魏曉光;杜玉杰;代安琪;李玲;劉鑒輝;張浩;楊光設計研發完成，并于2025-03-27向國家知識產權局提交的專利申請。

本高溫阻斷測試電路、測試裝置和測試方法在說明書摘要公布了：本申請提供了一種高溫阻斷測試電路、測試裝置和測試方法，該電路包括電連接的交流電壓源支路、直流電壓源支路、門極電壓源支路和接地開關，在接地開關和交流電壓源支路的控制開關均閉合的情況下，采用交流電壓源支路對被測功率半導體器件進行高溫交流阻斷測試；在接地開關和直流電壓源支路的控制開關均閉合的情況下，采用直流電壓源支路對被測功率半導體器件進行高溫直流阻斷測試；在接地開關斷開，且門極電壓源支路的控制開關閉合的情況下，采用門極電壓源支路對被測功率半導體器件進行高溫門極反偏測試。該電路通過控制不同電壓源的接入，實現被測功率半導體器件高溫交流阻斷、高溫直流阻斷以及高溫門極反偏的篩選及可靠性測試。

本發明授權高溫阻斷測試電路、測試裝置和測試方法在權利要求書中公布了：1.一種高溫阻斷測試電路，其特征在于，包括電連接的交流電壓源支路、直流電壓源支路、門極電壓源支路和接地開關，其中，所述接地開關的第一端與被測功率半導體器件的門極電連接，所述接地開關的第二端接地，所述交流電壓源支路、所述直流電壓源支路和所述門極電壓源支路均包括控制開關；在所述接地開關和所述交流電壓源支路的控制開關均閉合的情況下，采用所述交流電壓源支路對所述被測功率半導體器件進行高溫交流阻斷測試；在所述接地開關和所述直流電壓源支路的控制開關均閉合的情況下，采用所述直流電壓源支路對所述被測功率半導體器件進行高溫直流阻斷測試；在所述接地開關斷開，且所述門極電壓源支路的控制開關閉合的情況下，采用所述門極電壓源支路對所述被測功率半導體器件進行高溫門極反偏測試；所述高溫阻斷測試電路還包括：第一監測支路，所述第一監測支路的第一端與所述被測功率半導體器件的陽極電連接，所述第一監測支路的第二端與所述被測功率半導體器件的陰極電連接，所述第一監測支路用于監測所述被測功率半導體器件的陽極和陰極之間的端電壓和或漏電流；第二監測支路，所述第二監測支路的第一端與所述被測功率半導體器件的門極電連接，所述第二監測支路的第二端與所述被測功率半導體器件的陰極電連接，所述第二監測支路用于監測所述被測功率半導體器件的門極和陰極之間的端電壓和或漏電流；保護支路，所述保護支路的第一端與所述被測功率半導體器件的陽極電連接，所述保護支路的第二端與所述被測功率半導體器件的陰極電連接。

如需購買、轉讓、實施、許可或投資類似專利技術，可聯系本專利的申請人或專利權人北京懷柔實驗室，其通訊地址為：101400 北京市懷柔區楊雁東一路8號院5號樓319室；或者聯系龍圖騰網官方客服，聯系龍圖騰網可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網”。