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龍圖騰網恭喜上海華力微電子有限公司申請的專利一種閾值電壓的測量方法及其系統獲國家發明授權專利權，本發明授權專利權由國家知識產權局授予，授權公告號為：CN114089147B 。

龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-05-27發布的發明授權授權公告中獲悉：該發明授權的專利申請號/專利號為：202111436114.7，技術領域涉及：G01R31/26；該發明授權一種閾值電壓的測量方法及其系統是由杜宏亮設計研發完成，并于2021-11-29向國家知識產權局提交的專利申請。

本一種閾值電壓的測量方法及其系統在說明書摘要公布了：本發明提供一種閾值電壓測量方法及其系統，包括：步驟S1：將MOS管的最大工作電壓和最小工作電壓設置為上限電壓和下限電壓，執行步驟S2；步驟S2：以所述上限電壓和所述下限電壓之間的值為掃描電壓，對所述MOS管的柵極施加所述掃描電壓，并獲取漏極電流，執行步驟S3；步驟S3：將所述漏極電流與目標電流作差得到第一差值，當所述第一差值的絕對值小于或等于所述第一設定值時，將所述掃描電壓作為閾值電壓輸出；當所述第一差值的絕對值大于所述第一設定值時，通過判斷所述漏極電流與所述目標電流的大小關系，調整所述上限電壓與所述下限電壓，并返回步驟S2。避免所述最大工作電壓與所述最小工作電壓的施加對所述MOS管造成的損壞以及閾值電壓的偏移。

本發明授權一種閾值電壓的測量方法及其系統在權利要求書中公布了：1.一種閾值電壓測量方法，其特征在于，包括：步驟S1：將MOS管的最大工作電壓和最小工作電壓設置為上限電壓和下限電壓，執行步驟S2；步驟S2：以所述上限電壓和所述下限電壓之間的值為掃描電壓，對所述MOS管的柵極施加所述掃描電壓，并獲取所述MOS管的漏極電流，執行步驟S3，在步驟S2中，將所述上限電壓和所述下限電壓之間的值分別與所述最大工作電壓和所述最小工作電壓作差得到第四差值和第五差值，所述第四差值和所述第五差值的絕對值均大于第二設定值；步驟S3：將所述漏極電流與目標電流作差得到第一差值，當所述第一差值的絕對值小于或等于第一設定值時，將所述掃描電壓作為所述MOS管的閾值電壓輸出；當所述第一差值的絕對值大于所述第一設定值時，判斷所述漏極電流與所述目標電流的大小關系，當所述漏極電流大于所述目標電流，將所述上限電壓替換為所述掃描電壓，并返回步驟S2，當所述漏極電流小于所述目標電流時，則將所述下限電壓替換為所述掃描電壓，并返回步驟S2；執行步驟S3之前，將所述掃描電壓分別與所述最大工作電壓和所述最小工作電壓作差，得到第二差值和第三差值，若所述第二差值和所述第三差值的絕對值中的任一個小于第二設定值時，所述第一差值的絕對值仍大于所述第一設定值，則將錯誤信號作為所述MOS管的閾值電壓輸出。

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