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龍圖騰網恭喜電子科技大學申請的專利一種基于數據容差分析擴展的天線陣列故障診斷方法獲國家發明授權專利權，本發明授權專利權由國家知識產權局授予，授權公告號為：CN115561530B 。

龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-05-23發布的發明授權授權公告中獲悉：該發明授權的專利申請號/專利號為：202211403448.9，技術領域涉及：G01R29/10；該發明授權一種基于數據容差分析擴展的天線陣列故障診斷方法是由張瑛;胡亞捷;丁汀;高家鵬;梁博軒;文雨農設計研發完成，并于2022-11-10向國家知識產權局提交的專利申請。

本一種基于數據容差分析擴展的天線陣列故障診斷方法在說明書摘要公布了：本發明屬于天線陣列技術領域，具體涉及一種基于數據容差分析擴展的天線陣列故障診斷方法。數據處理階段，在遠場區域上測量多個方向的遠場輻射數據，生成功率信息，利用容差分析對測量得到的功率方向圖做預處理，得到考慮陣元位置誤差下的功率方向圖的上下界，由此擴展數據集。在訓練階段，完成對故障診斷模型的訓練，將擴展后的數據集作為神經網絡的輸入，將失效陣元的位置和數目設置為輸出，訓練兩個神經網絡。在應用階段，在訓練階段測量數據的相同方向上采集數據，將得到的待測數據輸入模型中，初步確定失效陣元個數和陣元失效的概率，再根據輻射補償的公式對待測結果進行數據補償，依次確定陣元失效的位置。

本發明授權一種基于數據容差分析擴展的天線陣列故障診斷方法在權利要求書中公布了：1.一種基于數據容差分析擴展的天線陣列故障診斷方法，其特征在于，包括以下步驟：S1、數據處理：在遠場區域上測量多個方向的遠場輻射數據，生成功率信息，利用容差分析對測量得到的功率方向圖做預處理，得到考慮陣元位置誤差下的功率方向圖的上下界，從而將單個數據擴展為多個，得到擴展數據集；其中通過容差分析得到功率方向圖的上下界具體方法為：確定每個陣元的位置區間，通過容差分析得到功率方向圖的上界和下界，其中功率方向圖是由遠場輻射的實部區間和虛部區間構成，先計算相位區間的上界和下界，再計算區間函數，對所有的上界和下界求和獲得和區間的上界和下界，和分別表示遠場輻射的實部區間和虛部區間，θk是第k個方向的觀測角和陣列參考坐標系的z正軸的夾角；再通過對遠場輻射數據的實部與虛部耦合的情況進行放縮，最終得到存在位置誤差時的功率方向圖的區間邊界；S2、訓練故障診斷模型，故障診斷模型的輸入為擴展數據集，輸出為失效陣元的位置和數目；S3、對與S1中相同方向的采樣點上的遠場數據進行測量，將數據輸入到訓練好的神經網絡中，確認最可能失效的陣元位置，然后對輻射進行補償，逐步確定所有可能失效陣元的位置，具體為：定義得到的測量數據為Ptested＝[Pθ1,Pθ2,...,PθK]T，K是測量點，輸入到用于確定失效陣元個數的單標簽神經網絡f1中得到預測失效陣元個數f1是關聯功率數據和失效陣元個數之間的神經網絡；將Ptested輸入到用于確定失效陣元位置的神經網絡f2中，確定陣元失效概率向量p＝[p1,p2,...,pM]，其中，f2是用于學習存在誤差的功率數據和失效陣元位置之間的神經網絡，pi,i∈[1,M]表示第i個陣元失效的概率；將得到的陣元失效概率做排序，取失效概率最大值和次大值的標記為pu和pv，并認為其中有一個陣元失效；迭代執行以下步驟直至利用pu和pv，對第u個和第v個陣元進行補償，補償后第k個遠場輻射數據分別為： 其中，f是工作頻率，c是光速，xu是第u個陣元的激勵，xv是第v個陣元的激勵，du是第u個陣元的實際位置，dv是第v個陣元的實際位置；設置將補償后的和得到的功率數據代替Ptested輸入到神經網絡f2中，得到新的概率向量和比較p[u]和p[v]中的最大值，若最大值在p[u]中，判定第u個陣元失效；否則，判定第v個陣元失效，更新u，v。

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