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龍圖騰網恭喜中國電子產品可靠性與環境試驗研究所((工業和信息化部電子第五研究所)(中國賽寶實驗室))申請的專利一種基于深度學習的硅基光互連芯片動態評估系統獲國家發明授權專利權，本發明授權專利權由國家知識產權局授予，授權公告號為：CN119667452B 。

龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-05-23發布的發明授權授權公告中獲悉：該發明授權的專利申請號/專利號為：202510200107.9，技術領域涉及：G01R31/28；該發明授權一種基于深度學習的硅基光互連芯片動態評估系統是由陸健婷;柳月波;賴燦雄;廖文淵;李樹旺;路國光設計研發完成，并于2025-02-24向國家知識產權局提交的專利申請。

本一種基于深度學習的硅基光互連芯片動態評估系統在說明書摘要公布了：本發明公開了一種基于深度學習的硅基光互連芯片動態評估系統，涉及芯片評估技術領域，該系統公開了基本性能分析模塊、光學器件篩查模塊、光學器件評估模塊、動態評估模塊，設置光學器件篩查模塊、光學器件評估模塊以及動態評估模塊，在開啟光學器件篩查工作后，通過構建一個硅基光互連芯片的模擬模型，可以模擬硅基光互連芯片在當前性能參數下各光學器件可能的性能表現，綜合分析每個光學器件的測試評估需求，根據測試評估需求的動態篩選以及排序光學器件的測試評估順序，不再需要對每個光學器件進行測試評估，可以快速確定硅基光互連芯片中的異常光學器件，提高光學器件的測試評估精度與效率。

本發明授權一種基于深度學習的硅基光互連芯片動態評估系統在權利要求書中公布了：1.一種基于深度學習的硅基光互連芯片動態評估系統，其特征在于，包括基本性能分析模塊、光學器件篩查模塊、光學器件評估模塊、動態評估模塊；所述基本性能分析模塊用于周期性獲取硅基光互連芯片的基本性能指數，基于基本性能指數與基本性能分界指數的比較結果，判定是否啟動光學器件篩查步驟；硅基光互連芯片的基本性能指數通過下述方式獲取得到：采集硅基光互連芯片在一個周期內的各種基本性能參數，將各種基本性能參數以數據集的方式組合成基本性能參數集，獲取基本性能分析模型，將基本性能參數集輸入基本性能分析模型，基本性能分析模型輸出得到硅基光互連芯片的基本性能指數；所述光學器件篩查模塊在當啟動光學器件篩查步驟時，構建硅基光互連芯片模擬模型，將硅基光互連芯片的各種基本性能參數輸入硅基光互連芯片模擬模型中，硅基光互連芯片模擬模型完成j次性能模擬分析，獲取每次性能模擬分析中各光學器件的器件性能指數；一次性能模擬分析中各光學器件的器件性能指數通過下述方式獲取得到：當硅基光互連芯片模擬模型完成一次性能模擬分析后，獲取各光學器件的特性參數，獲取各光學器件對應的特性參數分析模型，將各光學器件的特性參數分別輸入對應的特性參數分析模型，輸出得到各光學器件的器件性能指數；所述光學器件評估模塊用于獲取各光學器件的器件評估測試指數，基于器件評估測試指數與器件評估測試閾指數的比較結果，判定是否將光學器件標記為評估測試器件；光學器件的器件評估測試指數通過下述方式獲取得到：獲取一個光學器件在每次性能模擬分析中的器件性能指數Sjp，j=1、2、…、J，J為性能模擬分析的總次數，j為對應性能模擬分析的次序號，設置器件性能系數為ep，p=1、2、…、P，e1＜e2＜e3＜…＜eP，每個器件性能系數對應一個范圍內的器件性能指數，器件性能指數的取值范圍包括（0，Sj1]，（Sj1，Sj2]，…，（SjP-1，SjP]，設置器件性能標準指數，當器件性能指數小于器件性能標準指數時，將性能失望次數增加一次，將性能失望次數標記為Hvz，利用公式得到該光學器件的器件評估測試指數Ewk，其中，f1為性能失望系數；所述動態評估模塊用于依次對各評估測試器件進行評估測試。

如需購買、轉讓、實施、許可或投資類似專利技術，可聯系本專利的申請人或專利權人中國電子產品可靠性與環境試驗研究所((工業和信息化部電子第五研究所)(中國賽寶實驗室))，其通訊地址為：511370 廣東省廣州市增城區朱村街朱村大道西78號；或者聯系龍圖騰網官方客服，聯系龍圖騰網可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網”。