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龍圖騰網恭喜南京大學;合肥國家實驗室申請的專利一種半導體漂移室探測器漂移特性的測試系統及方法獲國家發明授權專利權，本發明授權專利權由國家知識產權局授予，授權公告號為：CN119828207B 。

龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-05-23發布的發明授權授權公告中獲悉：該發明授權的專利申請號/專利號為：202510334586.3，技術領域涉及：G01T7/00；該發明授權一種半導體漂移室探測器漂移特性的測試系統及方法是由徐尉宗;郭越;徐仁杰;陸海;任芳芳;周東設計研發完成，并于2025-03-20向國家知識產權局提交的專利申請。

本一種半導體漂移室探測器漂移特性的測試系統及方法在說明書摘要公布了：本發明涉及半導體漂移室探測器測量領域，具體涉及一種半導體漂移室探測器漂移特性的測試系統及方法。測試系統包括雙面探針臺、半導體漂移室探測器、第一雙通道數字萬用表、第二雙通道數字萬用表、激光器和光纖夾具。雙面探針臺用于固定和連接探測器，數字萬用表分別施加偏壓和采集數據，激光器通過光纖照射探測器背面。測試時，先選激光器波長并調光功率，將探測器置于暗室雙面探針臺并連接設備，光照后設置電壓并監測電流，調整光照位置，依據不同光照位置電流差判斷橫向漂移特性是否合格。該測試系統及方法，相比傳統集成測試，有效減少測試時間，提高器件迭代速度，能便捷表征半導體漂移室探測器中電子的橫向漂移特性。

本發明授權一種半導體漂移室探測器漂移特性的測試系統及方法在權利要求書中公布了：1.一種半導體漂移室探測器漂移特性的測試系統，其特征在于，所述測試系統包括：雙面探針臺（4），所述雙面探針臺（4）上設置有多個探針；半導體漂移室探測器（3），所述半導體漂移室探測器（3）放置于所述雙面探針臺（4）上并與探針相連，且所述半導體漂移室探測器（3）的背面朝上設置；所述半導體漂移室探測器（3）的正面包括陽極電極（301）、最內漂移環電極（302）和最外漂移環電極（303）；所述半導體漂移室探測器（3）的背面包括背電極（305）；第一雙通道數字萬用表（5），所述第一雙通道數字萬用表（5）的兩個通道分別與所述最內漂移環電極（302）和所述背電極（305）通過所述探針相連；第二雙通道數字萬用表（6），所述第二雙通道數字萬用表（6）的兩個通道分別與所述陽極電極（301）和所述最外漂移環電極（303）通過所述探針相連；所述第二雙通道數字萬用表（6）與電腦端（7）相連；激光器（1），所述激光器（1）上連接有光纖（2），所述光纖（2）輸出端用于照射所述半導體漂移室探測器（3）背面。

如需購買、轉讓、實施、許可或投資類似專利技術，可聯系本專利的申請人或專利權人南京大學;合肥國家實驗室，其通訊地址為：210023 江蘇省南京市棲霞區仙林大道163號；或者聯系龍圖騰網官方客服，聯系龍圖騰網可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網”。