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龍圖騰網恭喜蘇州大學申請的專利基于偏振復用的雙通道微波源相位噪聲測試方法及裝置獲國家發明授權專利權，本發明授權專利權由國家知識產權局授予，授權公告號為：CN113175999B 。

龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-05-16發布的發明授權授權公告中獲悉：該發明授權的專利申請號/專利號為：202110449061.6，技術領域涉及：G01J9/00；該發明授權基于偏振復用的雙通道微波源相位噪聲測試方法及裝置是由周沛;江芝東;李念強;謝溢鋒;傅劍斌;潘萬勝設計研發完成，并于2021-04-25向國家知識產權局提交的專利申請。

本基于偏振復用的雙通道微波源相位噪聲測試方法及裝置在說明書摘要公布了：本申請提出基于偏振復用的雙通道微波源相位噪聲測試方法及裝置，該裝置包括：垂直腔面激光器、用于產生所需的光載波信號，第一功分器用于將被測微波源發出的信號分成兩路，一路送至第二功分器，經第二功分器分成2路，其中的一路經移相、混頻器后通過低通濾波器A濾波，另一路送至第三功分器，經第三功分器分成2路，其中的一路經移相、混頻器后通過低通濾波器B濾波，第二功分器及第三功分器分成另一路分別進入雙偏振強度調制器，經偏振分束后的x偏振態的光經光電探測器A、y偏振態的光進入經光電探測器B，然后分別經放大器放大后的信號作為射頻信號輸入對應的混頻器中，混頻器輸出端連接對應的低通濾波器濾除高頻信號，低通濾波器A、低通濾波器B輸出的信號輸入信號分析儀中，經計算可得到被測微波源的相位噪聲。

本發明授權基于偏振復用的雙通道微波源相位噪聲測試方法及裝置在權利要求書中公布了：1.基于偏振復用的雙通道微波源相位噪聲測試裝置，其特征在于：包括：沿光路方向依次連接的垂直腔面激光器、雙偏振強度調制器及偏振分束器，所述垂直腔面激光器用于產生兩個不同偏振態的光載波信號，所述雙偏振強度調制器用于對不同偏振態的光進行電光調制，第一功分器的輸入端連接待測微波源，輸出端分別與第二功分器和第三功分器相連，第二功分器的輸出端連接雙偏振強度調制器及移相器A，移相器A的輸出端連接混頻器A，第三功分器的輸出端連接雙偏振強度調制器及移相器B，移相器B的輸出端連接混頻器B，來自垂直腔面激光器的包括x偏振態和y偏振態的光引入雙偏振強度調制器進行電光調制，并經保偏光纖傳輸至偏振分束器，偏振分束器的第一輸出端連接光電探測器A，光電探測器A的輸出端連接所述混頻器A的輸入端，偏振分束器的第二輸出端連接光電探測器B，光電探測器B的輸出端連接所述混頻器B的輸入端，所述混頻器A輸出端連接低通濾波器A，所述混頻器B連接低通濾波器B，所述低通濾波器A的輸出端及所述混頻器B的輸出端分別連接信號分析裝置；偏振分束器將不同偏振態的光分開，x偏振態的光進入上支路，y偏振態的光進入下支路，基于上支路及下支路的光電探測器A、光電探測器B分別進行光電轉換，轉換后的信號分別輸出至放大器A、放大器B，并與本振信號在對應的混頻器A、混頻器B中混合，上支路經混頻器A混合輸出的中頻信號送至低通濾波器A,以濾除高頻部分，下支路經混頻器B混合輸出的中頻信號送至低通濾波器B,以濾除高頻部分，信號分析裝置接收低通濾波器A及低通濾波器B的低頻信號進行相位噪聲計算。

如需購買、轉讓、實施、許可或投資類似專利技術，可聯系本專利的申請人或專利權人蘇州大學，其通訊地址為：215104 江蘇省蘇州市相城區濟學路8號；或者聯系龍圖騰網官方客服，聯系龍圖騰網可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網”。