恭喜中國科學院上海技術物理研究所孫艷獲國家專利權
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龍圖騰網恭喜中國科學院上海技術物理研究所申請的專利基于傅里葉光譜儀窄帶光源氣體濃度探測裝置及測量方法獲國家發明授權專利權,本發明授權專利權由國家知識產權局授予,授權公告號為:CN114397248B 。
龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-05-16發布的發明授權授權公告中獲悉:該發明授權的專利申請號/專利號為:202210123386.X,技術領域涉及:G01N21/01;該發明授權基于傅里葉光譜儀窄帶光源氣體濃度探測裝置及測量方法是由孫艷;文政績;李曉溫;周東劼;郝加明;劉鋒設計研發完成,并于2022-02-10向國家知識產權局提交的專利申請。
本基于傅里葉光譜儀窄帶光源氣體濃度探測裝置及測量方法在說明書摘要公布了:本發明公開一種基于傅里葉光譜儀窄帶光源氣體濃度探測裝置及測量方法。本發明是為了解決現有氣體濃度測試方法中與氣體有接觸或測試靈敏度低、測試手段單一等問題。該探測裝置由窄帶輻射光源發出的紅外窄帶光進入傅里葉光譜儀,氣體倉放在傅里葉光譜儀樣品倉中,最后由探測器探測光譜。窄帶輻射光源通過加熱窄帶輻射器發出窄帶紅外光,或者由寬帶紅外光源通過窄帶濾波片獲得窄帶紅外光源。窄帶輻射光源通過外接光源端口入射到傅里葉光譜儀中。氣體倉中加入待測氣體,并且可以控制充入氣體的濃度。該氣體濃度探測方法具有靈敏度高,無接觸探測等優點。
本發明授權基于傅里葉光譜儀窄帶光源氣體濃度探測裝置及測量方法在權利要求書中公布了:1.一種基于傅里葉光譜儀窄帶光源氣體濃度的測量方法,該方法使用了了一種探測裝置,該探測裝置包括:窄帶輻射源(1)、傅里葉光譜儀(2)、氣體倉(3)、探測器(4),其特征在于:所述的窄帶輻射光源(1)通過加熱窄帶輻射器發出窄帶光,或者由寬帶光源通過窄帶濾波片獲得窄帶光源;所述的氣體倉(3)中加入待測氣體,氣體倉密閉,體積固定;傅里葉光譜儀(2)有可用外接光源端口;該測量方法包括以下步驟:步驟1:光源發射峰與被測氣體吸收峰相同;步驟2:氣體濃度標定,氣體倉中充入空氣,通過傅里葉光譜儀探測透射光譜,光源發射峰位光強為I0,通入氣體濃度C1,測量透射光譜,發射峰位光強I1……In,n通常取到發射峰強度不再降低為止;步驟3:以氣體濃度C為x軸,靈敏度S:S=I0-InI0為y軸繪制氣體濃度對應圖;步驟4:測量氣體的濃度,氣體倉中充入空氣,通過傅里葉光譜儀探測透射光譜,光源發射峰位光強為I0,充入Vx量的待測氣體VxV,測量發光峰位光強Ix,I0-InI0在濃度圖中找對應的氣體濃度Ca,進一步計算充入氣體的濃度Cx=CaVVx。
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