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龍圖騰網恭喜中國科學院長春光學精密機械與物理研究所申請的專利一種光學系統點擴散函數橢率測量方法獲國家發明授權專利權，本發明授權專利權由國家知識產權局授予，授權公告號為：CN116007906B 。

龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-05-16發布的發明授權授權公告中獲悉：該發明授權的專利申請號/專利號為：202310088215.2，技術領域涉及：G01M11/02；該發明授權一種光學系統點擴散函數橢率測量方法是由羅敬;徐天曉;張曉輝;何煦;董吉洪;徐抒巖設計研發完成，并于2023-02-06向國家知識產權局提交的專利申請。

本一種光學系統點擴散函數橢率測量方法在說明書摘要公布了：本發明涉及光學檢測技術領域，具體地提出一種光學系統點擴散函數橢率測量方法。該方法通過平行光管和待測光學系統搭建星點目標成像光路，且同步在光學仿真軟件中構建與實際光路光學參數一致的模擬光學系統，包含模擬平行光管和模擬待測光學系統，并在模擬系統中添加Zernike面。以實際成像光路實測得到的點擴散函數為目標，以添加的Zernike面為優化變量，通過智能優化算法不斷迭代優化，直到模擬系統的點擴散函數特征參數與實測點擴散函數特征參數的差異小于設定閾值，停止優化。將最終優化得到的Zenrike面與模擬待測系統構成新系統，該新系統的點擴散函數橢率值就是實際待測系統的點擴散函數橢率。

本發明授權一種光學系統點擴散函數橢率測量方法在權利要求書中公布了：1.一種光學系統點擴散函數橢率測量方法，其特征在于，包括：分別測量得到平行光管和待測光學系統各自的波像差，將所述平行光管和所述待測光學系統調整對齊，使得所述平行光管物面與所述待測光學系統的焦面共軛，將調整好的所述平行光管和所述待測光學系統整體置入穩定環境后，測得星點目標經過所述平行光管和所述待測光學系統后形成的星點像，并將星點像作為目標點擴散函數；利用點擴散函數橢率計算方法得到所述星點像的橢率值，同步計算星點像的其他特征參數，并將得到的參數作為目標參數；利用光學仿真軟件，構建與實際系統光學參數一致的模擬光學系統，包含模擬平行光管和模擬待測光學系統，將光學仿真軟件與數值計算軟件建立動態數據連接，將所述平行光管和所述待測光學系統實測得到的波像差分別輸入到所述模擬光學系統，在所述模擬光學系統中加入Zernike面，以所述目標參數為目標值，以Zernike面為優化變量，對所述模擬光學系統進行優化，將所述模擬光學系統輸出的點擴散函數與實測的目標點擴散函數進行比較，當兩者差值滿足設定閾值要求時，停止優化，將最終優化得到的Zernike面與所述模擬待測光學系統組成一個新光學系統，并計算得到該新系統的點擴散函數橢率，此即為所述待測光學系統的點擴散函數橢率，完成測量。

如需購買、轉讓、實施、許可或投資類似專利技術，可聯系本專利的申請人或專利權人中國科學院長春光學精密機械與物理研究所，其通訊地址為：130033 吉林省長春市經濟技術開發區東南湖大路3888號；或者聯系龍圖騰網官方客服，聯系龍圖騰網可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網”。