恭喜浙江大學魏凱獲國家專利權
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龍圖騰網恭喜浙江大學申請的專利基于超透鏡陣列的二維掃描OPA系統獲國家發明授權專利權，本發明授權專利權由國家知識產權局授予，授權公告號為：CN119335508B 。
龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-05-16發布的發明授權授權公告中獲悉：該發明授權的專利申請號/專利號為：202411887938.X，技術領域涉及：G01S7/481；該發明授權基于超透鏡陣列的二維掃描OPA系統是由魏凱;李楓;朱智豪;湯明煒;顏欣;張學軍;孟雷欣設計研發完成，并于2024-12-20向國家知識產權局提交的專利申請。
本基于超透鏡陣列的二維掃描OPA系統在說明書摘要公布了：本發明公開了一種基于超透鏡陣列的二維掃描OPA系統，屬于超透鏡技術與OPA技術領域。通過將超透鏡陣列與OPA（合成孔徑激光雷達）結合，實現光束的二維掃描，掃描角度可達±30°。超透鏡陣列由多個超透鏡單元結構組成，每個超透鏡單元結構對應一個OPA發射單元，通過水平移動超透鏡單元結構，可以改變出射光束的偏折角度。該發明解決了OPA出射光束偏折角度小的問題，有利于實現大角度二維掃描的激光雷達系統。
本發明授權基于超透鏡陣列的二維掃描OPA系統在權利要求書中公布了：1.一種基于超透鏡陣列的二維掃描OPA系統，其特征在于，該系統包括：片上二維OPA陣列，用于出射光束；超透鏡陣列，與片上二維OPA陣列間隔放置，用于接收從OPA發射的光束，并將光束進行偏折；所述超透鏡陣列與所述OPA平行放置，超透鏡陣列單元與OPA單元一一對應，相距為預設透鏡焦距f；OPA陣列相位測量補償模塊，用于補償OPA陣列的活塞相位，以實現出射光束大角度連續掃描；所述OPA陣列相位測量補償模塊能夠單獨控制每一塊OPA單元的相位，允許其與相鄰OPA單元有0到2π弧度的任意相移；相位測量補償模塊中的相位補償芯片采用PID控制算法、SPGD算法、爬山算法或粒子群優化算法輸出控制信號至集成光芯片上的調相器，使相鄰OPA主激光光路的相位差鎖定在某一固定值，以補償OPA陣列活塞相位，從而實現大角度連續掃描。
如需購買、轉讓、實施、許可或投資類似專利技術，可聯系本專利的申請人或專利權人浙江大學，其通訊地址為：310058 浙江省杭州市西湖區余杭塘路866號；或者聯系龍圖騰網官方客服，聯系龍圖騰網可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網”。
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1、本報告根據公開、合法渠道獲得相關數據和信息，力求客觀、公正，但并不保證數據的最終完整性和準確性。
2、報告中的分析和結論僅反映本公司于發布本報告當日的職業理解，僅供參考使用，不能作為本公司承擔任何法律責任的依據或者憑證。
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