恭喜東莞市臺易電子科技有限公司涂炳超獲國家專利權
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龍圖騰網恭喜東莞市臺易電子科技有限公司申請的專利探針接觸阻抗實時監測與補償方法、裝置及存儲介質獲國家發明授權專利權，本發明授權專利權由國家知識產權局授予，授權公告號為：CN119471054B 。
龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-05-16發布的發明授權授權公告中獲悉：該發明授權的專利申請號/專利號為：202510047854.3，技術領域涉及：G01R27/02；該發明授權探針接觸阻抗實時監測與補償方法、裝置及存儲介質是由涂炳超設計研發完成，并于2025-01-13向國家知識產權局提交的專利申請。
本探針接觸阻抗實時監測與補償方法、裝置及存儲介質在說明書摘要公布了：本發明涉及一種探針接觸阻抗實時監測與補償方法、裝置及存儲介質。該方法：獲取包含探針接觸電阻值和接觸力的第一測量數據集，并輸入雙層深度學習神經網絡進行訓練，得到探針接觸阻抗監測模型；進行雙參數故障檢測，得到接觸狀態分類結果；基于接觸狀態分類結果生成二維補償矩陣，并對第二測量數據集進行非線性映射計算，得到補償系數；將補償系數、原始探針結構參數和原始探針操作參數輸入圖注意力堆疊自編碼器進行參數預測，得到目標探針結構參數和目標探針操作參數；進行云模型計算和賦權運算，得到目標補償指令，目標補償指令用于調節探針位置參數和探針壓力參數。本發明的實施提高了芯片的探針測試的精度。
本發明授權探針接觸阻抗實時監測與補償方法、裝置及存儲介質在權利要求書中公布了：1.一種探針接觸阻抗實時監測與補償方法，其特征在于，包括以下步驟：獲取包含探針接觸電阻值和接觸力的第一測量數據集，并輸入雙層深度學習神經網絡進行訓練，得到探針接觸阻抗監測模型；實時采集第二測量數據集，并輸入所述探針接觸阻抗監測模型進行雙參數故障檢測，得到接觸狀態分類結果；基于所述接觸狀態分類結果生成二維補償矩陣，并對所述第二測量數據集進行非線性映射計算，得到補償系數；將所述補償系數、原始探針結構參數和原始探針操作參數輸入圖注意力堆疊自編碼器進行參數預測，得到目標探針結構參數和目標探針操作參數；對所述目標探針結構參數和所述目標探針操作參數進行云模型計算和賦權運算，得到目標補償指令，所述目標補償指令用于調節探針位置參數和探針壓力參數。
如需購買、轉讓、實施、許可或投資類似專利技術，可聯系本專利的申請人或專利權人東莞市臺易電子科技有限公司，其通訊地址為：523000 廣東省東莞市高埗鎮高龍西路139號7號樓；或者聯系龍圖騰網官方客服，聯系龍圖騰網可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網”。
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2、報告中的分析和結論僅反映本公司于發布本報告當日的職業理解，僅供參考使用，不能作為本公司承擔任何法律責任的依據或者憑證。
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