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龍圖騰網恭喜深圳市維度科技股份有限公司申請的專利顯微鏡調節結構、光模塊檢測裝置和光模塊檢測方法獲國家發明授權專利權，本發明授權專利權由國家知識產權局授予，授權公告號為：CN119620369B 。

龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-05-16發布的發明授權授權公告中獲悉：該發明授權的專利申請號/專利號為：202510163323.0，技術領域涉及：G02B21/24；該發明授權顯微鏡調節結構、光模塊檢測裝置和光模塊檢測方法是由周其;周建仁;嚴偉成設計研發完成，并于2025-02-14向國家知識產權局提交的專利申請。

本顯微鏡調節結構、光模塊檢測裝置和光模塊檢測方法在說明書摘要公布了：本發明公開一種顯微鏡調節結構、光模塊檢測裝置和光模塊檢測方法，結構包括內框架、中框架和外框架，內框架具有沿Z軸方向貫穿的檢測通孔；中框架環設于內框架外周，內框架能相對中框架沿X軸方向位移；外框架包括環設于中框架外周的外框本體、分別固定于外框本體相對兩端的前限位件和后限位件，中框架能相對外框本體沿Y軸方向位移；中框架與內框架在Y軸方向相互限位配合，中框架與前限位件形成用于限制內框架沿Z軸方向位移的限位配合，外框本體和前限位件中的至少一者與中框架在X軸方向相互限位配合，前限位件與后限位件形成用于限制中框架沿Z軸方向位移的限位配合。本發明技術方案能夠提高光模塊的端面檢測效率和保證檢測結果的可靠性。

本發明授權顯微鏡調節結構、光模塊檢測裝置和光模塊檢測方法在權利要求書中公布了：1.一種光模塊檢測方法，其特征在于，所述光模塊檢測方法運用于光模塊檢測裝置，所述光模塊檢測裝置包括顯微鏡調節結構，所述顯微鏡調節結構包括：內框架1，具有沿Z軸方向貫穿的檢測通孔11；中框架2，環設于所述內框架1外周，所述內框架1能夠相對所述中框架2沿X軸方向位移；外框架3，包括環設于所述中框架2外周的外框本體31、分別固定于所述外框本體31相對兩端的前限位件32和后限位件33，所述中框架2能夠相對所述外框本體31沿Y軸方向位移；其中，所述中框架2與所述內框架1在Y軸方向上相互限位配合，所述中框架2與所述前限位件32形成用于限制所述內框架1沿Z軸方向位移的限位配合，所述外框本體31和所述前限位件32中的至少一者與所述中框架2在X軸方向上相互限位配合，所述前限位件32與所述后限位件33形成用于限制所述中框架2沿Z軸方向位移的限位配合；所述光模塊檢測方法包括：對獲取的光模塊端面圖像通過深度可分離卷積網絡進行幾何特征、表面特征和光學特征的提取，對所提取的特征進行自適應融合，得到端面特征數據；根據所述端面特征數據，獲取相鄰圖像幀間的位移變化量，判斷晃動程度，利用雙流網絡計算補償參數，對端面圖像進行位置校正和清晰度增強，得到補償后的端面圖像；具體包括：獲取兩個相鄰圖像幀的端面特征數據，對所述端面特征數據進行光流計算，得到位移向量場；根據所述位移向量場，計算X軸和Y軸方向的位移分量和加速度分量，并結合位移閾值和加速度閾值，確定晃動等級；基于所述晃動等級，利用補償預測網絡生成位置補償系數和銳化補償系數，其中，所述位置補償系數用于校正X軸和Y軸方向的偏移，所述銳化補償系數用于校正不同程度的運動模糊；將所述位置補償系數和銳化補償系數分別輸入到空域補償網絡和頻域補償網絡，得到空域補償結果和頻域補償結果，并對所述空域補償結果和頻域補償結果進行自適應融合，得到補償后的端面圖像；對所述補償后的端面圖像進行區域定位得到待檢測區域，對所述待檢測區域進行特征分析，得到缺陷特征數據；對所述缺陷特征數據進行分類處理，得到初步缺陷檢測結果；對所述初步缺陷檢測結果進行可靠性驗證和缺陷程度評估，生成最終檢測結果。

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