恭喜北京星震維度信息技術(shù)有限公司趙偉東獲國家專利權(quán)
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龍圖騰網(wǎng)恭喜北京星震維度信息技術(shù)有限公司申請的專利一種光盤存儲架及定位方法獲國家發(fā)明授權(quán)專利權(quán),本發(fā)明授權(quán)專利權(quán)由國家知識產(chǎn)權(quán)局授予,授權(quán)公告號為:CN111986709B 。
龍圖騰網(wǎng)通過國家知識產(chǎn)權(quán)局官網(wǎng)在2025-05-13發(fā)布的發(fā)明授權(quán)授權(quán)公告中獲悉:該發(fā)明授權(quán)的專利申請?zhí)?專利號為:202010936284.0,技術(shù)領(lǐng)域涉及:G11B33/04;該發(fā)明授權(quán)一種光盤存儲架及定位方法是由趙偉東;趙衛(wèi)明;林勁楠;蘇鎮(zhèn)濤設(shè)計研發(fā)完成,并于2020-09-08向國家知識產(chǎn)權(quán)局提交的專利申請。
本一種光盤存儲架及定位方法在說明書摘要公布了:本發(fā)明公開了一種光盤存儲架及定位方法,屬于光盤存儲技術(shù)領(lǐng)域。該光盤存儲架包括容置盤架、第一分度環(huán)、第二分度環(huán)、第一檢測機構(gòu)和第二檢測機構(gòu),容置盤架上一一對應(yīng)設(shè)置有容納槽和容納槽標(biāo)號,第一分度環(huán)和第二分度環(huán)同心凸設(shè)在容置盤架上,第一分度環(huán)上沿周向設(shè)置有與容納槽一一對應(yīng)的定位齒條,第二分度環(huán)上沿周向依次設(shè)置有多個具有不同寬度的定位槽,且不同寬度的定位槽對應(yīng)不同數(shù)量的定位齒條,當(dāng)?shù)诙z測機構(gòu)檢測到某一定位槽時,根據(jù)第一檢測機構(gòu)檢測到的定位齒條的數(shù)量能夠獲取最后一個檢測到的定位齒條對應(yīng)的定位容納槽的定位容納槽標(biāo)號。該光盤存儲架結(jié)構(gòu)簡單、成本低,該定位方法不僅定位準(zhǔn)確,且沒有誤差累計。
本發(fā)明授權(quán)一種光盤存儲架及定位方法在權(quán)利要求書中公布了:1.一種定位方法,其特征在于,利用光盤存儲架;所述光盤存儲架,包括:容置盤架1,所述容置盤架1能夠繞其中心軸線進(jìn)行旋轉(zhuǎn),所述容置盤架1的頂面上呈放射狀設(shè)置有多個用于插接光盤10的容納槽101,所述容置盤架1上沿周向設(shè)置有多個容納槽標(biāo)號102,所述容納槽標(biāo)號102與所述容納槽101一一對應(yīng)設(shè)置;第一分度環(huán)2,所述第一分度環(huán)2凸設(shè)在所述容置盤架1的底面上,并與所述容置盤架1同軸設(shè)置,所述第一分度環(huán)2包括多個呈環(huán)形陣列排布的定位齒條201,所述定位齒條201與所述容納槽101一一對應(yīng)設(shè)置;第二分度環(huán)3,所述第二分度環(huán)3凸設(shè)在所述容置盤架1的底面上,并與所述容置盤架1同軸設(shè)置,所述第二分度環(huán)3上沿周向依次設(shè)置有多個具有不同寬度的定位槽301,不同寬度的所述定位槽301對應(yīng)不同數(shù)量的所述定位齒條201;第一檢測機構(gòu),用于在所述第一分度環(huán)2隨所述容置盤架1旋轉(zhuǎn)時檢測依次經(jīng)過所述第一檢測機構(gòu)的所述定位齒條201;第二檢測機構(gòu),用于在所述第二分度環(huán)3隨所述容置盤架1旋轉(zhuǎn)時檢測依次經(jīng)過所述第二檢測機構(gòu)的所述定位槽301,所述第二檢測機構(gòu)與所述第一檢測機構(gòu)沿所述容置盤架1的徑向間隔設(shè)置;所述光盤存儲架被配置為能夠在所述第二檢測機構(gòu)檢測到某一所述定位槽301的持續(xù)時間內(nèi)根據(jù)所述第一檢測機構(gòu)檢測到的所述定位齒條201的數(shù)量獲取最后一個檢測到的所述定位齒條201對應(yīng)的定位容納槽的定位容納槽標(biāo)號;所述定位方法包括如下步驟:容置盤架1繞其中心軸線進(jìn)行旋轉(zhuǎn);第一檢測機構(gòu)對第一分度環(huán)2進(jìn)行檢測,同時,第二檢測機構(gòu)對第二分度環(huán)3進(jìn)行檢測;當(dāng)所述第二檢測機構(gòu)開始檢測到所述第二分度環(huán)3上的某一定位槽301時,所述第一檢測機構(gòu)開始對檢測到所述第一分度環(huán)2上的定位齒條201進(jìn)行計數(shù),并在所述第二檢測機構(gòu)完成對所述定位槽301檢測時,所述第一檢測機構(gòu)對經(jīng)過的所述定位齒條201的數(shù)量進(jìn)行統(tǒng)計;當(dāng)所述第二檢測機構(gòu)無法檢測到所述定位槽301時,根據(jù)所述定位槽301對應(yīng)的所述定位齒條201的數(shù)量確定最后一個檢測到的所述定位齒條201對應(yīng)的定位容納槽的定位容納槽標(biāo)號M;獲取所述容置盤架1上的所述定位齒條201所需轉(zhuǎn)過的再轉(zhuǎn)動齒條數(shù)R,以將目標(biāo)光盤轉(zhuǎn)動至光驅(qū)處或光盤出入口處。
如需購買、轉(zhuǎn)讓、實施、許可或投資類似專利技術(shù),可聯(lián)系本專利的申請人或?qū)@麢?quán)人北京星震維度信息技術(shù)有限公司,其通訊地址為:100000 北京市海淀區(qū)海淀蘇州街18號院-4樓12號樓1207;或者聯(lián)系龍圖騰網(wǎng)官方客服,聯(lián)系龍圖騰網(wǎng)可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網(wǎng)”。
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