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龍圖騰網(wǎng)恭喜愛德萬測試股份有限公司申請的專利產(chǎn)品測試數(shù)據(jù)的檢測方法、系統(tǒng)、電子設(shè)備和存儲介質(zhì)獲國家發(fā)明授權(quán)專利權(quán)，本發(fā)明授權(quán)專利權(quán)由國家知識產(chǎn)權(quán)局授予，授權(quán)公告號為：CN114254261B 。

龍圖騰網(wǎng)通過國家知識產(chǎn)權(quán)局官網(wǎng)在2025-05-13發(fā)布的發(fā)明授權(quán)授權(quán)公告中獲悉：該發(fā)明授權(quán)的專利申請?zhí)?專利號為：202011007511.8，技術(shù)領(lǐng)域涉及：G06F18/2433；該發(fā)明授權(quán)產(chǎn)品測試數(shù)據(jù)的檢測方法、系統(tǒng)、電子設(shè)備和存儲介質(zhì)是由徐琨設(shè)計研發(fā)完成，并于2020-09-23向國家知識產(chǎn)權(quán)局提交的專利申請。

本產(chǎn)品測試數(shù)據(jù)的檢測方法、系統(tǒng)、電子設(shè)備和存儲介質(zhì)在說明書摘要公布了：本發(fā)明公開了一種產(chǎn)品測試數(shù)據(jù)的檢測方法、系統(tǒng)、電子設(shè)備和存儲介質(zhì)，該檢測方法包括獲取多個歷史批次產(chǎn)品的歷史測試數(shù)據(jù)；對歷史測試數(shù)據(jù)進(jìn)行篩選以獲取中間測試數(shù)據(jù)；根據(jù)預(yù)設(shè)測試參數(shù)對中間測試數(shù)據(jù)進(jìn)行分組以獲取第一分組；根據(jù)第一分組的中間測試數(shù)據(jù)獲取第一分組的分布類型；在分布類型為預(yù)設(shè)分布類型時將分布類型對應(yīng)的第一分組作為目標(biāo)分組；根據(jù)目標(biāo)分組對應(yīng)的中間測試數(shù)據(jù)獲取目標(biāo)測試限值。本發(fā)明基于歷史測試數(shù)據(jù)確定初始測試限值，實(shí)現(xiàn)在新批次產(chǎn)品檢測之前收緊關(guān)鍵限值，以保證對新批次產(chǎn)品的測試數(shù)據(jù)的檢測準(zhǔn)確性；能夠自適應(yīng)地對測試限值的動態(tài)調(diào)整，實(shí)時有效地檢測出存在異常數(shù)據(jù)的芯片測試數(shù)據(jù)，提高了芯片的測試質(zhì)量。

本發(fā)明授權(quán)產(chǎn)品測試數(shù)據(jù)的檢測方法、系統(tǒng)、電子設(shè)備和存儲介質(zhì)在權(quán)利要求書中公布了：1.一種產(chǎn)品測試數(shù)據(jù)的檢測方法，其特征在于，所述檢測方法包括：獲取多個歷史批次產(chǎn)品對應(yīng)的歷史測試數(shù)據(jù)；對所述歷史測試數(shù)據(jù)進(jìn)行篩選處理以獲取中間測試數(shù)據(jù)；根據(jù)不同的預(yù)設(shè)測試參數(shù)對所述中間測試數(shù)據(jù)進(jìn)行分組處理以獲取多個第一分組；其中，每種所述預(yù)設(shè)測試參數(shù)對應(yīng)一個所述第一分組；根據(jù)所述第一分組對應(yīng)的所述中間測試數(shù)據(jù)獲取每個所述第一分組對應(yīng)的第一分布類型；判斷所述第一分布類型是否為預(yù)設(shè)分布類型，若是，則將所述第一分布類型對應(yīng)的所述第一分組作為目標(biāo)分組；根據(jù)所述目標(biāo)分組對應(yīng)的所述中間測試數(shù)據(jù)獲取目標(biāo)測試限值；其中，所述目標(biāo)測試限值用于對新批次產(chǎn)品的測試數(shù)據(jù)進(jìn)行測試。

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