恭喜上海概倫電子股份有限公司劉志宏獲國家專利權
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龍圖騰網恭喜上海概倫電子股份有限公司申請的專利用于提取集成電路器件的器件模型參數的方法和裝置獲國家發明授權專利權,本發明授權專利權由國家知識產權局授予,授權公告號為:CN113221489B 。
龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-05-13發布的發明授權授權公告中獲悉:該發明授權的專利申請號/專利號為:202110614168.1,技術領域涉及:G06F30/3308;該發明授權用于提取集成電路器件的器件模型參數的方法和裝置是由劉志宏;梁漢成;石凱;馬玉濤設計研發完成,并于2021-06-02向國家知識產權局提交的專利申請。
本用于提取集成電路器件的器件模型參數的方法和裝置在說明書摘要公布了:本申請涉及一種用于提取集成電路器件的器件模型參數的方法,包括:提供針對所述集成電路器件的測試數據集;提供提取條件設置界面,所述提取條件設置界面包括多個提取條件域,其中每個提取條件域對應于一個測試條件;接收用戶輸入,所述用戶輸入用于對所述提取條件設置界面的多個提取條件域中的至少一個提取條件域進行設置或選擇提取條件變量;至少基于所述用戶輸入設置或選擇的提取條件變量生成一個提取條件模板,并且利用所述提取條件模板從所述測試數據集中篩選對應的測試數據以生成自定義測試數據集;以及用所述自定義測試數據集對所述集成電路器件的器件模型進行擬合,以生成所述集成電路器件的器件模型參數。
本發明授權用于提取集成電路器件的器件模型參數的方法和裝置在權利要求書中公布了:1.一種用于提取集成電路器件的器件模型參數的方法,其特征在于,所述方法包括:提供針對所述集成電路器件的測試數據集,所述測試數據集包括在多組測試條件下對所述集成電路器件進行測試得到的多個測試數據,其中每組測試條件包括多個測試條件的組合;提供提取條件設置界面,所述提取條件設置界面包括多個提取條件域,其中每個提取條件域對應于一個測試條件;接收用戶輸入,所述用戶輸入用于對所述提取條件設置界面的多個提取條件域中的至少一個提取條件域進行設置或選擇提取條件變量;至少基于所述用戶輸入設置或選擇的提取條件變量生成一個提取條件模板,并且利用所述提取條件模板從所述測試數據集中篩選對應的測試數據以生成自定義測試數據集;以及用所述自定義測試數據集對所述集成電路器件的器件模型進行擬合,以生成所述集成電路器件的器件模型參數。
如需購買、轉讓、實施、許可或投資類似專利技術,可聯系本專利的申請人或專利權人上海概倫電子股份有限公司,其通訊地址為:201306 上海市浦東新區臨港新片區環湖西二路888號C樓;或者聯系龍圖騰網官方客服,聯系龍圖騰網可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網”。
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