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龍圖騰網恭喜上海工程技術大學申請的專利一種高精度點云數據重構方法獲國家發明授權專利權，本發明授權專利權由國家知識產權局授予，授權公告號為：CN113888693B 。

龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-05-13發布的發明授權授權公告中獲悉：該發明授權的專利申請號/專利號為：202110944202.1，技術領域涉及：G06T17/00；該發明授權一種高精度點云數據重構方法是由方宇;寧業衍;楊蘊杰;楊皓;陶翰中;張汝梟;李皓宇;張伯強設計研發完成，并于2021-08-17向國家知識產權局提交的專利申請。

本一種高精度點云數據重構方法在說明書摘要公布了：本發明屬于三維測量的技術領域，公開了一種高精度點云數據重構方法，包括檢測平臺，其上設置有運動機構和支架，支架上設置有用于數據采集的線結構光檢測模塊，線結構光檢測模塊發射的激光束垂直射向待檢物體，以采樣周期為單元，根據相似三角形原理，結合線結構光檢測模塊在Z軸方向的測量范圍獲得待測點的Z軸坐標，再結合線結構光檢測模塊在X軸方向的測量范圍，利用等差數列公式獲得待測點的X軸坐標，然后，根據線結構光檢測模塊的物理參數，結合采樣周期的次數，配合運動機構的移動，獲得待測點的Y軸坐標，重構出三維點云數據，最后，根據線結構光檢測模塊的相機坐標系和世界坐標系之間的空間夾角對重構的三維點云數據進行補償調整。

本發明授權一種高精度點云數據重構方法在權利要求書中公布了：1.一種高精度點云數據重構方法，包括檢測平臺，在所述檢測平臺上設置有運動機構和支架，所述運動機構用于帶動待檢物體沿繞X軸和Y軸運動，所述支架上設置有線結構光檢測模塊，所述線結構光檢測模塊發射的激光束垂直射向待檢物體，完成對待測物體的點云數據采集，其特征在于：以采樣周期為單元，根據相似三角形原理，結合線結構光檢測模塊在Z軸方向的測量范圍獲得待測點的Z軸坐標，再結合線結構光檢測模塊在X軸方向的測量范圍，利用等差數列公式獲得待測點的X軸坐標，然后，根據線結構光檢測模塊的物理參數，結合采樣周期的次數獲得待測點的Y軸坐標，重構出三維點云數據，最后，根據線結構光檢測模塊的相機坐標系和世界地理坐標之間的空間夾角對重構的三維點云數據進行補償調整，獲取最終的重構數據。

如需購買、轉讓、實施、許可或投資類似專利技術，可聯系本專利的申請人或專利權人上海工程技術大學，其通訊地址為：201620 上海市松江區龍騰路333號；或者聯系龍圖騰網官方客服，聯系龍圖騰網可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網”。