恭喜上海空間電源研究所雷虎獲國家專利權
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龍圖騰網恭喜上海空間電源研究所申請的專利一種測量原子氧通量密度的裝置及方法獲國家發明授權專利權，本發明授權專利權由國家知識產權局授予，授權公告號為：CN113945485B 。
龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-05-13發布的發明授權授權公告中獲悉：該發明授權的專利申請號/專利號為：202111385820.3，技術領域涉及：G01N9/00；該發明授權一種測量原子氧通量密度的裝置及方法是由雷虎;王珂;楊佩;陳一飛;吳彥妮;丁曉君設計研發完成，并于2021-11-22向國家知識產權局提交的專利申請。
本一種測量原子氧通量密度的裝置及方法在說明書摘要公布了：本發明公開了一種測量原子氧通量密度的裝置及方法，本發明提供的裝置包括托盤、夾層和蓋板；所述托盤上設有若干用于放置樣品的第一凹孔，所述第一凹孔以所述托盤的對稱軸，呈軸對稱排布；任意所述第一凹孔的形狀大小相同；在使用狀態下，所述樣品放置于所述托盤的第一凹孔內，所述夾層和所述蓋板再依次放置于所述托盤上。本發明可以有效的解決原子氧密度測量試驗過程中，原子氧對試驗樣品的側蝕，能夠精確地測量原子氧的通量密度，并且該發明能夠準確的測量原子氧通量密度的均勻性，降低了原子氧通量密度偏差，提高了原子氧試驗數據的準確度，推進了航天產品的研發、應用及研制進度。
本發明授權一種測量原子氧通量密度的裝置及方法在權利要求書中公布了：1.一種測量原子氧通量密度的裝置，其特征在于，包括托盤、夾層和蓋板；所述托盤上設有若干用于放置樣品的第一凹孔，所述第一凹孔以所述托盤的對稱軸，呈軸對稱排布；任意所述第一凹孔的形狀大小相同；在使用狀態下，所述樣品放置于所述托盤的第一凹孔內，所述夾層和所述蓋板再依次放置于所述托盤上；所述夾層上設有與所述第一凹孔相匹配的第二凹孔；所述蓋板上設有與所述第二凹孔相匹配的第三凹孔；所述第二凹孔和第三凹孔與所述第一凹孔的形狀相同；在使用狀態下，所述第二凹孔能嵌入所述第一凹孔內，所述第三凹孔能嵌入所述第二凹孔內；所述夾層為聚酰亞胺膜。
如需購買、轉讓、實施、許可或投資類似專利技術，可聯系本專利的申請人或專利權人上海空間電源研究所，其通訊地址為：200245 上海市閔行區東川路2965號；或者聯系龍圖騰網官方客服，聯系龍圖騰網可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網”。
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1、本報告根據公開、合法渠道獲得相關數據和信息，力求客觀、公正，但并不保證數據的最終完整性和準確性。
2、報告中的分析和結論僅反映本公司于發布本報告當日的職業理解，僅供參考使用，不能作為本公司承擔任何法律責任的依據或者憑證。
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