恭喜中國工程物理研究院電子工程研究所龔廷睿獲國家專利權
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龍圖騰網恭喜中國工程物理研究院電子工程研究所申請的專利基于熱電效應的半導體設備動態熱管理方法及設備獲國家發明授權專利權,本發明授權專利權由國家知識產權局授予,授權公告號為:CN115145378B 。
龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-05-13發布的發明授權授權公告中獲悉:該發明授權的專利申請號/專利號為:202210776998.9,技術領域涉及:G06F1/20;該發明授權基于熱電效應的半導體設備動態熱管理方法及設備是由龔廷睿;李良輝;李俊燾;高磊設計研發完成,并于2022-06-30向國家知識產權局提交的專利申請。
本基于熱電效應的半導體設備動態熱管理方法及設備在說明書摘要公布了:本發明提供了基于熱電效應的半導體設備的動態熱管理方法及設備,主要利用基于熱電效應的熱電制冷器件主動控制半導體設備的熱斜率進行降溫,當半導體設備的當前熱斜率大于固定斜率閾值,啟動參數計算電路,進行優化計算,獲得熱電制冷器件的工作電流或工作電壓,并利用動態熱管理電路啟動熱電制冷器件及時對半導體設備進行降溫,控制其熱斜率達到甚至低于固定斜率閾值。本發明在保持甚至提升半導體設備原有功率的前提下,實現了半導體設備的動態熱管理,使得半導體設備可以在更長的時間內維持高功率工作狀態,為高重頻半導體設備高性能工作狀態下的熱管理提供了一種新思路,同時該方法能夠對局部熱點提供精準、實時地冷卻,可靠性高、適用性強。
本發明授權基于熱電效應的半導體設備動態熱管理方法及設備在權利要求書中公布了:1.一種基于熱電效應的半導體設備的動態熱管理方法,其特征在于,所述方法包括:S1:通過溫度測量部件獲取待監測半導體設備熱源的當前采樣溫度;S2:基于當前采樣溫度以及存儲的之前的采樣溫度計算當前熱斜率;S3:判斷當前熱斜率是否大于預定義的固定熱斜率閾值,若是,則執行步驟S4,若不是則執行步驟S1;S4:建立熱電制冷器件參數與待測半導體設備的工作參數之間的熱模型,并以固定斜率閾值為優化目標,利用目標優化算法對熱模型進行最優計算,計算獲得熱電制冷器件的最佳工作電流或者電壓以及待監測半導體設備的最優參數;S5:根據步驟S4計算的最佳工作電流或者工作電壓啟用熱電制冷器件工作;并根據步驟S4計算的待監測半導體設備的最優參數,調整待監測半導體設備,使待監測半導體設備保持在原有功率預算工作或比原有功率預算更高的情況下工作;S6:重復上述步驟S1~S5,直至半導體設備不需要進行動態熱管理后停止。
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