恭喜重慶大學楊慶獲國家專利權
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龍圖騰網恭喜重慶大學申請的專利一種基于莫爾條紋的電弧溫度測量系統及方法獲國家發明授權專利權,本發明授權專利權由國家知識產權局授予,授權公告號為:CN116295905B 。
龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-05-13發布的發明授權授權公告中獲悉:該發明授權的專利申請號/專利號為:202310275821.5,技術領域涉及:G01K11/00;該發明授權一種基于莫爾條紋的電弧溫度測量系統及方法是由楊慶;袁濤;周桐設計研發完成,并于2023-03-21向國家知識產權局提交的專利申請。
本一種基于莫爾條紋的電弧溫度測量系統及方法在說明書摘要公布了:本發明實施例公開了一種基于莫爾條紋的電弧溫度測量系統,包括:沿光路依次設置的激光器、第一平凸透鏡、第二平凸透鏡、第一郎奇光柵、第二郎奇光柵、第三平凸透鏡、光闌、第四平凸透鏡和相機;以及,產生于所述第二平凸透鏡和所述第一郎奇光柵之間的所述光路中的任意位置的電弧,其中,交流電弧發生系統向兩個電極施加可調的電壓,以使所述兩個電極之間的空氣間隙被擊穿產生所述電弧,所述兩個電極在豎直方向上相對放置。本發明實施例公開了一種基于莫爾條紋的電弧溫度測量方法。本發明解決了接觸式診斷法對等離子體造成干擾和光譜診斷法抗干擾能力弱的問題。
本發明授權一種基于莫爾條紋的電弧溫度測量系統及方法在權利要求書中公布了:1.一種基于莫爾條紋的電弧溫度測量系統,其特征在于,所述系統包括:沿光路依次設置的激光器、第一平凸透鏡、第二平凸透鏡、第一郎奇光柵、第二郎奇光柵、第三平凸透鏡、光闌、第四平凸透鏡和相機;以及,產生于所述第二平凸透鏡和所述第一郎奇光柵之間的所述光路中的任意位置的電弧,其中,交流電弧發生系統向兩個電極施加可調的電壓,以使所述兩個電極之間的空氣間隙被擊穿產生所述電弧,所述兩個電極在豎直方向上相對放置;所述激光器產生的光束依次經過所述第一平凸透鏡擴束和所述第二平凸透鏡收束后變為平行光束,所述平行光束依次經過所述電弧、所述第一郎奇光柵和第二郎奇光柵后干涉產生多條莫爾條紋,所述多條莫爾條紋經過所述第三平凸透鏡收束后由所述光闌濾除+1或-1頻譜以外的光束,濾除后的光束經過所述第四平凸透鏡收束后被所述相機接收,相機拍攝錄像,獲取莫爾條紋圖像的原始圖像,對所述原始圖像進行剪裁處理,剪除所述原始圖像中左右位置與莫爾條紋無關的區域以及所述原始圖像中上下位置與所述兩個電極的黑影無關的區域,得到第一圖像;對所述第一圖像進行灰度處理、二值化處理和細化處理,得到第二圖像;獲取所述第二圖像中每條莫爾條紋的所有像素點的位置,對于同一條莫爾條紋,刪除豎直方向上因條紋寬度大而產生的白點并保留條紋中心的像素點,得到保留后的像素點,將所述保留后的像素點重新聚合并以單點線形式呈現,得到多條單點線;對每條單點線的每個水平位置,獲取該單點線在該水平位置的像素高度y1以及該單點線在該水平位置未畸變時的像素高度y0,得到該單點線在該水平位置的畸變像素高度l,并按照比值k將畸變像素高度轉換為實際畸變高度h:h=kl,l=y1-y0,式中,k為所述兩個電極的間隙長度L與所述兩個電極在所述原始圖像中的間隙像素長度L之間的比值,k=LL;對每條單點線的每個水平位置,根據該單點線在該水平位置的實際畸變高度,確定光線在y軸方向的偏折角 式中,θ為光柵柵線的夾角,d為所述第一郎奇光柵和所述第二郎奇光柵之間的距離,h為每條單點線在每個水平位置的實際畸變高度,p為光柵常數,p為相鄰兩條莫爾條紋的間距;對每條單點線的每個水平位置得到的所述偏折角進行Abel逆變換,得到每條單點線的每個水平位置的空氣折射率n,利用溫度與空氣折射率的關系確定每條單點線上每個水平位置對應的所述電弧的溫度: 式中,T0為現場環境溫度,n0為現場空氣折射率,n為所述Abel逆變換所得的空氣折射率。
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