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龍圖騰網恭喜中國民用航空總局第二研究所申請的專利一種電離層對導航影響的性能評估方法與相關裝置獲國家發明授權專利權，本發明授權專利權由國家知識產權局授予，授權公告號為：CN119310588B 。

龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-05-09發布的發明授權授權公告中獲悉：該發明授權的專利申請號/專利號為：202411860190.4，技術領域涉及：G01S19/21；該發明授權一種電離層對導航影響的性能評估方法與相關裝置是由鄒杰;張也;葉家全;吳杰;孫雪曼;孫啟禎設計研發完成，并于2024-12-17向國家知識產權局提交的專利申請。

本一種電離層對導航影響的性能評估方法與相關裝置在說明書摘要公布了：本申請提供了一種電離層對導航影響的性能評估方法與相關裝置，涉及衛星導航技術領域。首先獲取采樣周期下待測衛星在多個連續采樣時刻下的雙頻觀測數據，接著依據L1頻點與L2頻點的載波頻率以及待測衛星在每個采樣時刻下的L1頻點與L2頻點的偽距觀測量，確定待測衛星在每個采樣時刻下的電離層延遲量；再依據相鄰兩個采樣時刻下電離層延遲量的差值、初始采樣時刻下的電離層延遲量以及當前采樣時刻下的電離層延遲量確定電離層延遲量波動值；最后當電離層延遲量波動值大于第一閾值時，確定電離層對導航造成影響。本申請具有在較短的時間內確定電離層對導航是否產生影響的優點。

本發明授權一種電離層對導航影響的性能評估方法與相關裝置在權利要求書中公布了：1.一種電離層對導航影響的性能評估方法，其特征在于，所述方法包括：獲取采樣周期下待測衛星在多個連續采樣時刻的雙頻觀測數據，所述雙頻觀測數據包括L1頻點與L2頻點的載波頻率以及所述待測衛星在L1頻點與L2頻點的偽距觀測量；依據所述L1頻點與L2頻點的載波頻率以及所述待測衛星在每個采樣時刻下的L1頻點與L2頻點的偽距觀測量，確定所述待測衛星在每個采樣時刻下的電離層延遲量；依據相鄰兩個采樣時刻下電離層延遲量的差值、初始采樣時刻下的電離層延遲量以及當前采樣時刻下的電離層延遲量確定電離層延遲量波動值；當所述電離層延遲量波動值大于第一閾值時，確定電離層對導航造成影響；其中，所述電離層延遲量波動值滿足公式： ；其中，B表示電離層延遲量波動值，Si表示第i個采樣時刻下的電離層延遲量，Si-1表示第i-1個采樣時刻下的電離層延遲量，Sn表示當前采樣時刻下的電離層延遲量，S1表示初始采樣時刻下的電離層延遲量。

如需購買、轉讓、實施、許可或投資類似專利技術，可聯系本專利的申請人或專利權人中國民用航空總局第二研究所，其通訊地址為：610000 四川省成都市二環路南二段17號；或者聯系龍圖騰網官方客服，聯系龍圖騰網可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網”。