恭喜浙江華憶芯科技有限公司涂川吉獲國家專利權
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龍圖騰網恭喜浙江華憶芯科技有限公司申請的專利閃存顆粒分級方法、電子設備和計算機可讀存儲介質獲國家發明授權專利權,本發明授權專利權由國家知識產權局授予,授權公告號為:CN119649892B 。
龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-05-09發布的發明授權授權公告中獲悉:該發明授權的專利申請號/專利號為:202510183885.1,技術領域涉及:G11C29/56;該發明授權閃存顆粒分級方法、電子設備和計算機可讀存儲介質是由涂川吉設計研發完成,并于2025-02-19向國家知識產權局提交的專利申請。
本閃存顆粒分級方法、電子設備和計算機可讀存儲介質在說明書摘要公布了:本申請公開了一種閃存顆粒分級方法、電子設備和計算機可讀存儲介質,該方法包括:獲取待篩選的閃存顆粒,確定閃存顆粒的所有塊中壞塊對應的壞塊數量;獲取閃存顆粒的正常塊中讀寫數據時對應的第一原始比特錯誤率,以及閃存顆粒的正常塊中寫入數據并經過預設等待時間后對應的第二原始比特錯誤率;其中,測試過程中收集有閃存顆粒操作時間;基于閃存顆粒操作時間、第一原始比特錯誤率和第二原始比特錯誤率,確定正常塊對應的塊分級;基于閃存顆粒中壞塊對應的壞塊數量和正常塊對應的塊分級,確定閃存顆粒的顆粒分級。通過上述方式,本申請能夠提高閃存顆粒分級的精度。
本發明授權閃存顆粒分級方法、電子設備和計算機可讀存儲介質在權利要求書中公布了:1.一種閃存顆粒分級方法,其特征在于,所述方法包括:獲取待篩選的閃存顆粒,確定所述閃存顆粒的所有塊中壞塊對應的壞塊數量;獲取所述閃存顆粒的正常塊中讀寫數據時對應的第一原始比特錯誤率,以及所述閃存顆粒的正常塊中寫入數據并經過預設等待時間后對應的第二原始比特錯誤率;其中,測試過程中收集有閃存顆粒操作時間;基于所述閃存顆粒操作時間、所述第一原始比特錯誤率和所述第二原始比特錯誤率,確定所述正常塊對應的塊分級;基于所述閃存顆粒中所述壞塊對應的壞塊數量和所述正常塊對應的塊分級,確定所述閃存顆粒的顆粒分級;其中,所述測試過程對應有多個測試輪次,在不同的測試輪次中,所述正常塊中寫入有所述數據的數據頁的比例相互區別;所述獲取所述閃存顆粒的正常塊中讀寫數據時對應的第一原始比特錯誤率,以及所述閃存顆粒的正常塊中寫入數據并經過預設等待時間后對應的第二原始比特錯誤率,包括針對每個測試輪次執行以下步驟:在數據讀寫測試溫度下向所述正常塊相應比例的數據頁中寫入數據,并在數據讀寫測試溫度下讀取所述正常塊中已寫入的數據,確定讀寫數據時對應的所述第一原始比特錯誤率;在數據保持測試溫度下向所述正常塊相應比例的數據頁中寫入數據,并在經過所述預設等待時間后得到對應的所述第二原始比特錯誤率;其中,所述數據保持測試溫度高于預設溫度,且所述預設等待時間分為時長區別的第一等待時間和第二等待時間。
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