恭喜深圳中科飛測科技股份有限公司陳魯獲國家專利權
買專利賣專利找龍圖騰,真高效! 查專利查商標用IPTOP,全免費!專利年費監控用IP管家,真方便!
龍圖騰網恭喜深圳中科飛測科技股份有限公司申請的專利一種光學檢測裝置及信噪比估算方法、缺陷檢測方法獲國家發明授權專利權,本發明授權專利權由國家知識產權局授予,授權公告號為:CN114354651B 。
龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-05-06發布的發明授權授權公告中獲悉:該發明授權的專利申請號/專利號為:202111629210.3,技術領域涉及:G01N21/956;該發明授權一種光學檢測裝置及信噪比估算方法、缺陷檢測方法是由陳魯;方一;黃有為;張嵩設計研發完成,并于2021-12-28向國家知識產權局提交的專利申請。
本一種光學檢測裝置及信噪比估算方法、缺陷檢測方法在說明書摘要公布了:本申請涉及一種光學檢測裝置及信噪比估算方法、缺陷檢測方法,其中光學檢測裝置包括轉臺、光源、探測器和處理器,處理器根據轉臺的轉速信號適配噪聲干擾的評估模型,根據探測器的電信號和或探測參數確定評估模型的輸入參數,將輸入參數輸入評估模型以計算得到信噪比,以及根據信噪比判斷待檢測物體的表面被檢測光照射的區域是否存在缺陷。技術方案建立了與待檢測物體的轉速適配的噪聲干擾評估模型,則結合獲取的輸入參數就容易計算得到光學檢測裝置的信噪比,不僅能夠提升不同轉速或檢測模式下的信噪比計算效率,還能夠得到信噪比與信號采集條件之間的關系,從而提高信噪比計算的準確性,進而利于提高光學檢測的準確性。
本發明授權一種光學檢測裝置及信噪比估算方法、缺陷檢測方法在權利要求書中公布了:1.一種光學檢測裝置,其特征在于,包括:轉臺,用于承載待檢測物體,以及帶動所述待檢測物體轉動;光源,用于產生檢測光,所述檢測光照射在所述待檢測物體的表面后形成反射光;探測器,用于接收所述反射光和或所述反射光之外的背景光,形成光信號并將所述光信號轉換成電信號;處理器,與所述轉臺、所述光源和所述探測器連接,用于對所述待檢測物體進行光學檢測的控制和分析;其中,所述處理器控制所述轉臺、所述光源和所述探測器工作,并獲取所述轉臺的轉速信號,以及獲取所述探測器的電信號和探測參數;所述處理器根據所述轉速信號確定轉速等級;所述處理器根據所述轉速等級確定光學檢測中受干擾的主要噪聲類型和次要噪聲類型;所述處理器根據所述主要噪聲類型建立噪聲干擾的評估模型;所述處理器根據所述電信號和或所述探測參數確定所述評估模型的輸入參數;所述處理器將所述輸入參數輸入所述評估模型以獲得信噪比;所述處理器根據所述信噪比判斷所述待檢測物體的表面被所述檢測光照射的區域是否存在缺陷。
如需購買、轉讓、實施、許可或投資類似專利技術,可聯系本專利的申請人或專利權人深圳中科飛測科技股份有限公司,其通訊地址為:518000 廣東省深圳市龍華區大浪街道同勝社區上橫朗第四工業區2號101、201、301;或者聯系龍圖騰網官方客服,聯系龍圖騰網可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網”。
1、本報告根據公開、合法渠道獲得相關數據和信息,力求客觀、公正,但并不保證數據的最終完整性和準確性。
2、報告中的分析和結論僅反映本公司于發布本報告當日的職業理解,僅供參考使用,不能作為本公司承擔任何法律責任的依據或者憑證。