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龍圖騰網(wǎng)恭喜奧比中光科技集團股份有限公司申請的專利一種圖像的校正方法及及屏下系統(tǒng)獲國家發(fā)明授權(quán)專利權(quán)，本發(fā)明授權(quán)專利權(quán)由國家知識產(chǎn)權(quán)局授予，授權(quán)公告號為：CN115131215B 。

龍圖騰網(wǎng)通過國家知識產(chǎn)權(quán)局官網(wǎng)在2025-04-29發(fā)布的發(fā)明授權(quán)授權(quán)公告中獲悉：該發(fā)明授權(quán)的專利申請?zhí)?專利號為：202110315005.3，技術(shù)領(lǐng)域涉及：H04N23/81；該發(fā)明授權(quán)一種圖像的校正方法及及屏下系統(tǒng)是由蘭富洋;楊鵬;王兆民;黃源浩;肖振中設(shè)計研發(fā)完成，并于2021-03-24向國家知識產(chǎn)權(quán)局提交的專利申請。

本一種圖像的校正方法及及屏下系統(tǒng)在說明書摘要公布了：本申請適用于圖像處理的技術(shù)領(lǐng)域，提供一種干涉條紋的校正方法及屏下系統(tǒng)，所述校正方法包括：獲取不同拍攝距離的干涉條紋圖像；獲取待校正圖像，并計算所述待校正圖像中每個待校正像素點的深度值；在所述不同拍攝距離的干涉條紋圖像中，選擇所述每個待校正像素點的深度值對應(yīng)的干涉條紋圖像，作為所述每個待校正像素點對應(yīng)的目標(biāo)干涉條紋圖像；提取所述目標(biāo)干涉條紋圖像中目標(biāo)坐標(biāo)位置的第一像素值；根據(jù)所述每個待校正像素點對應(yīng)的第一像素值，校正所述每個待校正像素點的第二像素值，得到校正后的圖像。上述方案，通過針對逐個待校正像素分別進行校正的方式，減弱了干涉條紋導(dǎo)致采集的圖像質(zhì)量較差的問題。

本發(fā)明授權(quán)一種圖像的校正方法及及屏下系統(tǒng)在權(quán)利要求書中公布了：1.一種干涉條紋的校正方法，其特征在于，所述校正方法，包括：獲取不同拍攝距離的干涉條紋圖像；所述干涉條紋圖像是指照明光源透過顯示屏照射在目標(biāo)平面上形成干涉條紋，并由采集模組采集而得的圖像；所述干涉條紋圖像用于反映干涉條紋在不同坐標(biāo)位置的第一像素值；獲取待校正圖像，并計算所述待校正圖像中每個待校正像素點的深度值；在所述不同拍攝距離的干涉條紋圖像中，選擇所述每個待校正像素點的深度值對應(yīng)的干涉條紋圖像，作為所述每個待校正像素點對應(yīng)的目標(biāo)干涉條紋圖像；提取所述目標(biāo)干涉條紋圖像中目標(biāo)坐標(biāo)位置的第一像素值；所述目標(biāo)坐標(biāo)位置是指所述目標(biāo)干涉條紋圖像對應(yīng)的待校正像素點在所述待校正圖像中所處的坐標(biāo)位置；根據(jù)所述每個待校正像素點對應(yīng)的第一像素值，校正所述每個待校正像素點的第二像素值，得到校正后的圖像，包括：獲取所有所述第一像素值中的最大第一像素值；將每個所述第一像素值除以所述最大第一像素值，得到所述每個待校正像素點對應(yīng)的第一校正參數(shù)；針對所述每個待校正像素點分別執(zhí)行如下步驟，得到校正后的圖像：若待校正像素點對應(yīng)目標(biāo)干涉條紋圖像的拍攝距離與該待校正像素點的深度值不相等，則將所述第一校正參數(shù)代入第一預(yù)設(shè)公式，得到第二校正參數(shù)；所述第一預(yù)設(shè)公式如下： 其中，Ia表示所述第一校正參數(shù)，Ib表示所述第二校正參數(shù)，La表示待校正像素點對應(yīng)目標(biāo)干涉條紋圖像的拍攝距離，Lb表示待校正像素點的深度值；將該待校正像素點的第二像素值除以所述第二校正參數(shù)，得到校正后的圖像；若待校正像素點對應(yīng)目標(biāo)干涉條紋圖像的拍攝距離與該待校正像素點的深度值相等，則將該待校正像素點的第二像素值除以所述第一校正參數(shù)，得到校正后的圖像。

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