恭喜深圳市海譜納米光學(xué)科技有限公司林琳獲國家專利權(quán)
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龍圖騰網(wǎng)恭喜深圳市海譜納米光學(xué)科技有限公司申請的專利一種FPI批量測試系統(tǒng)及其測試方法獲國家發(fā)明授權(quán)專利權(quán),本發(fā)明授權(quán)專利權(quán)由國家知識產(chǎn)權(quán)局授予,授權(quán)公告號為:CN114113871B 。
龍圖騰網(wǎng)通過國家知識產(chǎn)權(quán)局官網(wǎng)在2025-04-29發(fā)布的發(fā)明授權(quán)授權(quán)公告中獲悉:該發(fā)明授權(quán)的專利申請?zhí)?專利號為:202111406674.8,技術(shù)領(lǐng)域涉及:G01R31/01;該發(fā)明授權(quán)一種FPI批量測試系統(tǒng)及其測試方法是由林琳;黃錦標(biāo);郭斌設(shè)計研發(fā)完成,并于2021-11-24向國家知識產(chǎn)權(quán)局提交的專利申請。
本一種FPI批量測試系統(tǒng)及其測試方法在說明書摘要公布了:本發(fā)明提出了一種FPI批量測試系統(tǒng),包括控制器、第一多路復(fù)用器、第二多路復(fù)用器以及FPI承載模塊;所述FPI承載模塊包括m條橫向選通線、n條豎向選通線以及由m行n列FPI載具組成的FPI載具陣列,所述FPI載具陣列用于承載待測試的FPI,從而構(gòu)成FPI陣列;m條所述橫向選通線的一端均電性連接第一多路復(fù)用器,且另一端分別并聯(lián)所述FPI陣列對應(yīng)行的n個FPI,n條所述豎向選通線的一端均電性連接第二多路復(fù)用器,且另一端分別并聯(lián)所述FPI陣列對應(yīng)列的m個FPI;還包括成像設(shè)備,所述成像設(shè)備用于采集所述FPI陣列的干涉圖像。本發(fā)明通過搭建FPI承載模塊,基于多路復(fù)用器構(gòu)建FPI選通陣列,兼容了個體間的差異,滿足FPI批量化測試需求,因此大大的提高了FPI的測試效率。
本發(fā)明授權(quán)一種FPI批量測試系統(tǒng)及其測試方法在權(quán)利要求書中公布了:1.一種FPI批量測試系統(tǒng),其特征在于,包括控制器、第一多路復(fù)用器、第二多路復(fù)用器以及連接在所述第一多路復(fù)用器與所述第二多路復(fù)用器之間的FPI承載模塊;所述FPI承載模塊包括m條橫向選通線、n條豎向選通線以及由m行n列FPI載具組成的FPI載具陣列,所述m≥2,n≥2,且所述m、n均為整數(shù),所述FPI載具陣列用于承載待測試的FPI,從而構(gòu)成FPI陣列;m條所述橫向選通線的一端均電性連接所述第一多路復(fù)用器,且另一端分別并聯(lián)所述FPI陣列對應(yīng)行的n個所述FPI,n條所述豎向選通線的一端均電性連接所述第二多路復(fù)用器,且另一端分別并聯(lián)所述FPI陣列對應(yīng)列的m個所述FPI,所述第一多路復(fù)用器和第二多路復(fù)用器均電性連接至控制器;還包括成像設(shè)備,所述成像設(shè)備用于采集所述FPI陣列的干涉圖像;所述系統(tǒng)用于對所述干涉圖像進行檢測,當(dāng)檢測到所述干涉圖像存在缺陷點時,提取所述缺陷點的信息,并在所述缺陷點上框選出對應(yīng)的檢測窗口,利用所述檢測窗口的步進對所述FPI陣列中其它FPI的相同位置進行對比檢測。
如需購買、轉(zhuǎn)讓、實施、許可或投資類似專利技術(shù),可聯(lián)系本專利的申請人或?qū)@麢?quán)人深圳市海譜納米光學(xué)科技有限公司,其通訊地址為:518000 廣東省深圳市寶安區(qū)新安街道興東社區(qū)69區(qū)中糧創(chuàng)芯研發(fā)中心1棟1903,1904;或者聯(lián)系龍圖騰網(wǎng)官方客服,聯(lián)系龍圖騰網(wǎng)可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網(wǎng)”。
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