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龍圖騰網恭喜中國科學技術大學申請的專利基于超光譜觀測的快速檢索反演大氣污染成分廓線方法獲國家發明授權專利權，本發明授權專利權由國家知識產權局授予，授權公告號為：CN114544526B 。

龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-04-29發布的發明授權授權公告中獲悉：該發明授權的專利申請號/專利號為：202210055280.0，技術領域涉及：G01N21/31；該發明授權基于超光譜觀測的快速檢索反演大氣污染成分廓線方法是由劉誠;張治國;李啟華設計研發完成，并于2022-01-18向國家知識產權局提交的專利申請。

本基于超光譜觀測的快速檢索反演大氣污染成分廓線方法在說明書摘要公布了：本發明公開了一種基于超光譜觀測的快速檢索反演大氣污染成分廓線方法，包括：以不同觀測角度獲得的太陽散射光譜為數據源，獲得大氣污染成分的觀測差分斜程總量，結合根據大氣輻射傳輸模型構建的差分大氣質量因子查找表進行快速統計模擬和迭代，最終獲得大氣污染成分的垂直分布，在保證了反演結果的合理性、可靠性的前提下大幅提高了廓線反演速度，同時，還給出了反演結果的質量控制方案。

本發明授權基于超光譜觀測的快速檢索反演大氣污染成分廓線方法在權利要求書中公布了：1.一種基于超光譜觀測的快速檢索反演大氣污染成分廓線方法，其特征在于，包括以下步驟：步驟1，利用輻射傳輸模型建立用于氣溶膠反演的差分大氣質量因子查找表I和用于痕量氣體反演的差分大氣質量因子查找表II；步驟2，對差分大氣質量因子查找表I和差分大氣質量因子查找表II分別關于站點維度和觀測月份進行降維得到站點查找表I和站點查找表II，具體包括：針對不同的站點，將查找表按照當地觀測維度和觀測月份進行插值減小查找表的體量，實現降維；步驟3，采集觀測數據，利用觀測數據包含的太陽散射光譜計算大氣污染成分的觀測差分斜程總量；步驟4，根據觀測數據和觀測差分斜程總量提取觀測序列信息，根據觀測序列信息分別對站點查找表I和站點查找表II進行降維得到序列查找表I和序列查找表II；步驟5，根據觀測序列信息和序列查找表I和序列查找表II反演氣溶膠廓線和痕量氣體廓線，包括：根據觀測序列信息和序列查找表I反演氣溶膠廓線，具體包括：步驟5-1，在初始廓線參數范圍內隨機生成模擬廓線，在降維的序列查找表I中，查找對模擬廓線預篩除后剩余廓線對應的差分大氣質量因子，然后利用下述公式計算得到的模擬差分斜程總量 其中，dAMFα是從降維的序列查找表I查找的差分大氣質量因子，VCD為反演垂直總量，其中，VCD取值為O4的VCD；步驟5-2，根據模擬差分斜程總量的匹配程度篩選模擬廓線參數，其間加入校正因子sf對30°角對應的模擬差分斜程總量進行了校正；步驟5-3，根據篩選得到的模擬廓線參數重新界定廓線參數范圍，并重復步驟5-1和步驟5-2反演過程，經過多次迭代收斂，輸出篩選得到的模擬廓線參數；步驟5-4，根據篩選得到的模擬廓線參數輸出最終的模擬廓線信息和廓線相關中間信息；其中最終的模擬廓線信息包括：最佳匹配廓線、平均廓線、依靠均方根誤差設置權重的加權平均廓線、模擬斜程總量均值；步驟5-5，根據廓線相關中間信息對模擬廓線進行質量控制檢測，標記異常廓線；根據觀測序列信息和序列查找表II反演痕量氣體廓線，具體包括：步驟5-1’，在初始廓線參數范圍內隨機生成模擬廓線，在降維的序列查找表II中，查找對模擬廓線預篩除后剩余廓線對應的差分大氣質量因子，然后利用下述公式計算得到的模擬差分斜程總量 其中，dAMFα是從降維的序列查找表II查找的差分大氣質量因子，VCD為反演垂直總量，通過公式計算得到，N為總觀測仰角；步驟5-2’，根據模擬差分斜程總量的匹配程度篩選模擬廓線參數；步驟5-3’，根據篩選得到的模擬廓線參數重新界定廓線參數范圍，并重復步驟5-1’和步驟5-2’反演過程，經過多次迭代收斂，輸出篩選得到的模擬廓線參數；步驟5-4’，根據篩選得到的模擬廓線參數輸出最終的模擬廓線信息和廓線相關中間信息；其中最終的模擬廓線信息包括：最佳匹配廓線、平均廓線、依靠均方根誤差設置權重的加權平均廓線、模擬斜程總量均值；步驟5-5’，根據廓線相關中間信息對模擬廓線進行質量控制檢測，標記異常廓線。

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