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龍圖騰網恭喜中檢易興元科技(北京)有限公司;中國計量科學研究院申請的專利基于光譜一致性的儀器校準方法、系統、介質及裝置獲國家發明授權專利權，本發明授權專利權由國家知識產權局授予，授權公告號為：CN118960957B 。

龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-04-18發布的發明授權授權公告中獲悉：該發明授權的專利申請號/專利號為：202411076059.9，技術領域涉及：G01J3/28；該發明授權基于光譜一致性的儀器校準方法、系統、介質及裝置是由杜彪;王家民;李琪;張正東;李軻;周玉山;郝璐;何津;徐曉雯;鐘子豪設計研發完成，并于2024-08-07向國家知識產權局提交的專利申請。

本基于光譜一致性的儀器校準方法、系統、介質及裝置在說明書摘要公布了：本發明涉及光學儀器校準，揭露基于光譜一致性的儀器校準方法、系統、介質及裝置，方法包括：通過儀器獲得光譜校準用標準物質的待校準光譜；通過插值擬合使得光譜校準用標準物質的標準光譜和待校準光譜的橫坐標相同；對插值擬合后的標準光譜和待校準光譜進行歸一化處理；采用窗口移動方式分析歸一化處理后的標準光譜和待校準光譜的相似度，獲得相似度最高的窗口移動后的待校準光譜；對相似度最高的窗口移動后的待校準光譜在Y軸上進行校準，使得相似度最高的窗口移動后的待校準光譜和標準光譜光強匹配。本發明實現不同誤差的光譜測量儀器的光譜一致性的校準。

本發明授權基于光譜一致性的儀器校準方法、系統、介質及裝置在權利要求書中公布了：1.一種基于光譜一致性的儀器校準方法，其特征在于，包括：待校準光譜獲得步驟：通過儀器獲得光譜校準用標準物質的待校準光譜，所述待校準光譜的橫坐標為波長、頻率或波數，縱坐標為光強；插值擬合步驟：通過插值擬合使得光譜校準用標準物質的標準光譜和待校準光譜的橫坐標相同；歸一化處理步驟：對插值擬合后的標準光譜和待校準光譜進行歸一化處理；相似度分析步驟：采用窗口移動方式分析歸一化處理后的標準光譜和待校準光譜的相似度，獲得相似度最高的窗口移動后的待校準光譜；Y軸校準步驟：對相似度最高的窗口移動后的待校準光譜在Y軸上進行校準，使得相似度最高的窗口移動后的待校準光譜和標準光譜光強匹配；其中，還包括：通過光譜計量標準裝置測量標準物質的標準光譜；其中，還包括：比較儀器與光譜計量標準裝置的分辨率；如果儀器的分辨率低于光譜計量標準裝置的分辨率，對標準光譜進行下采樣，得到與儀器的分辨率相同的標準光譜；其中，所述對標準光譜進行下采樣的步驟包括：對標準光譜結合鄰域加權進行下采樣，所述對標準光譜結合鄰域加權進行下采樣的步驟包括：設定鄰域；將標準光譜上對應待校準光譜譜線橫坐標的光強更新為其鄰域內光強的加權平均值，權重隨著與光強的距離增加而減少。

如需購買、轉讓、實施、許可或投資類似專利技術，可聯系本專利的申請人或專利權人中檢易興元科技(北京)有限公司;中國計量科學研究院，其通訊地址為：101300 北京市順義區白馬路馬坡段69號院6號樓；或者聯系龍圖騰網官方客服，聯系龍圖騰網可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網”。