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龍圖騰網恭喜青島科技大學申請的專利一種旋轉電磁場結構表面裂紋智能反演與尺寸測量方法獲國家發明授權專利權，本發明授權專利權由國家知識產權局授予，授權公告號為：CN119515877B 。

龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-04-18發布的發明授權授權公告中獲悉：該發明授權的專利申請號/專利號為：202510078444.5，技術領域涉及：G06T7/00；該發明授權一種旋轉電磁場結構表面裂紋智能反演與尺寸測量方法是由趙建明;公衍浩;楊化林設計研發完成，并于2025-01-17向國家知識產權局提交的專利申請。

本一種旋轉電磁場結構表面裂紋智能反演與尺寸測量方法在說明書摘要公布了：本發明提供一種旋轉電磁場結構表面裂紋智能反演與尺寸測量方法，首先通過掃查獲取被檢結構的Bx、By、Bz矩陣，然后利用裂紋識別人工神經網絡對Bz磁場圖像進行識別，獲取裂紋的有無；再者，將Bx、By、Bz作為三個通道組成全新的B彩色圖像，通過裂紋反演人工神經網絡獲取裂紋圖像與B彩色圖像之間的映射關系，進而獲取結構表面裂紋長度、深度和走向的信息。本發明可實現結構表面裂紋的智能識別，降低人工判定的誤判率；采用三個方向的磁場信號反演裂紋形貌，提高了精度；可以精準獲取結構表面任意方向裂紋的長度、深度和走向，為結構的安全評估與維修決策提供數據支撐。

本發明授權一種旋轉電磁場結構表面裂紋智能反演與尺寸測量方法在權利要求書中公布了：1.一種旋轉電磁場結構表面裂紋智能反演與尺寸測量方法，其特征在于，S1：通過機械手夾持旋轉電磁場探頭完成被測結構的掃查，采集Bx、By、Bz矩陣，其中三個矩陣的大小都統一為M*M；S2：先將Bz矩陣除以Bzmax，然后乘255，最后轉化為Bz灰度圖像；S3：通過預先訓練好的裂紋識別人工神經網絡對所述Bz灰度圖像進行識別，若識別為裂紋則進行S4；若沒有識別為裂紋，則結束；S4：將Bx矩陣除以Bxmax，然后乘255，最后轉化為Bx灰度圖像；將By矩陣除以Bymax，然后乘255，最后轉化為By灰度圖像；將Bx、By、Bz灰度圖像分別作為一、二、三通道，組成B彩色圖像；S5：將所述B彩色圖像輸入預先訓練好的裂紋反演人工神經網絡中，輸出表面裂紋灰度圖像，然后將所述表面裂紋灰度圖像的像素值除以255，然后乘以P，轉化為裂紋深度矩陣，矩陣的大小為M*M；S6：取所述裂紋深度矩陣中最大的N個數的平均值作為表面裂紋最大深度，取裂紋兩端之間的距離為裂紋的長度，通過裂紋的兩個端點獲取裂紋的走向；所述Bx為X方向的磁通密度；所述By為Y方向的磁通密度，所述Bz為Z方向的磁通密度，其中平行于掃查方向為X方向，垂直于掃查方向且平行于被測結構表面為Y方向，垂直于掃查方向且垂直于被測結構表面為Z方向；所述Bzmax為所述旋轉電磁場探頭所能采集Z方向磁通密度的最大值，所述Bxmax為所述旋轉電磁場探頭所能采集X方向磁通密度的最大值，所述Bymax為所述旋轉電磁場探頭所能采集Y方向磁通密度的最大值；所述M為矩陣的行數或列數；所述P為檢測裂紋深度的最大值。

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