恭喜成都煜恒科技有限公司鄧勇獲國家專利權(quán)
買專利賣專利找龍圖騰,真高效! 查專利查商標用IPTOP,全免費!專利年費監(jiān)控用IP管家,真方便!
龍圖騰網(wǎng)恭喜成都煜恒科技有限公司申請的專利一種基于三維建模的輪蓋檢測方法及系統(tǒng)獲國家發(fā)明授權(quán)專利權(quán),本發(fā)明授權(quán)專利權(quán)由國家知識產(chǎn)權(quán)局授予,授權(quán)公告號為:CN119533335B 。
龍圖騰網(wǎng)通過國家知識產(chǎn)權(quán)局官網(wǎng)在2025-04-18發(fā)布的發(fā)明授權(quán)授權(quán)公告中獲悉:該發(fā)明授權(quán)的專利申請?zhí)?專利號為:202510108893.X,技術(shù)領(lǐng)域涉及:G01B11/24;該發(fā)明授權(quán)一種基于三維建模的輪蓋檢測方法及系統(tǒng)是由鄧勇設(shè)計研發(fā)完成,并于2025-01-23向國家知識產(chǎn)權(quán)局提交的專利申請。
本一種基于三維建模的輪蓋檢測方法及系統(tǒng)在說明書摘要公布了:本發(fā)明涉及自動檢測領(lǐng)域,具體是一種基于三維建模的輪蓋檢測方法及系統(tǒng),通過藍光掃描的方式構(gòu)建輪蓋的三維模型?;谳喩w的形狀特征,本申請先提取輪蓋中心,再基于輪蓋中心和粗檢模板進行粗檢,從而對輪蓋整體的深度信息進行驗證。在通過粗檢后,進入精細檢測流程。在精細檢測流程中,將輪蓋從水平面上劃分為多個檢測區(qū)域,對每個區(qū)域分別進行表面瑕疵檢測。此外,還基于外圈區(qū)域?qū)喩w進行形狀和尺寸檢測,對于復(fù)雜結(jié)構(gòu)的卡扣結(jié)構(gòu),本申請通過提取對應(yīng)的剖面結(jié)構(gòu)來進行檢測。本申請可以實現(xiàn)對輪蓋結(jié)構(gòu)的全自動檢測流程,相比于人工檢測,具有更高的檢測效率和檢測精度。
本發(fā)明授權(quán)一種基于三維建模的輪蓋檢測方法及系統(tǒng)在權(quán)利要求書中公布了:1.一種基于三維建模的輪蓋檢測方法,其特征在于,包括步驟:對待檢測輪蓋進行多個角度的藍光掃描,得到輪蓋的三維模型;對所述三維模型進行特征提取,得到輪蓋中心,包括:提取所述三維模型的正面二維輪廓和背面二維輪廓;基于預(yù)先構(gòu)建配置的輪廓尺寸篩選出所述正面二維輪廓中的外輪廓以及所述背面二維輪廓中的外輪廓;提取所述正面二維輪廓中的第一外輪廓中心點以及所述背面二維輪廓中的第二外輪廓中心點,以及基于所述第一外輪廓中心點和所述第二外輪廓中心點構(gòu)建中軸線,將所述中軸線作為輪蓋中心;基于所述輪蓋中心與預(yù)先構(gòu)建的粗檢模板所述待檢測輪蓋進行粗檢,得到第一檢測結(jié) 果,包括:提取所述三維模型的正面圖像和背面圖像;將所述正面圖像和所述背面圖像分別 進行灰度轉(zhuǎn)換,得到正面灰度圖像和背面灰度圖像;獲取所述三維模型的正面和背面多個 點位的深度值,并基于多個點位的深度值將所述正面灰度圖像和所述背 面灰度圖像對應(yīng)位置的灰度值進行重新賦值,得到深度圖像,其中,所述 深度圖像中深度值與所述灰度值呈線性的正比或者反比關(guān)系;基于所述輪蓋中心將所 述深度圖像與所述粗檢模板進行重疊,并計算重疊后的深度圖像與粗檢模板的求差圖像,以及計算求差圖像中所有像素點的灰度值總和; 在所述灰度值總和大于預(yù)設(shè)閾值時,基于所述輪蓋中心將所述深度圖像旋轉(zhuǎn)目標角度,并回到計算重疊圖像的求差圖像中所有像素點的灰度值總和,直至所述灰度值總 和小于或者等于預(yù)設(shè)閾值;在所述灰度值總和小于或者等于預(yù)設(shè)閾值時,判定所述待檢測 輪蓋通過粗檢;在所述深度圖像旋轉(zhuǎn)360°后,所述灰度值總和無法小于或者等于預(yù)設(shè)閾值 時,判定所述待檢測輪蓋未通過粗檢; 在所述第一檢測結(jié)果為正常時,基于所述輪蓋中心將預(yù)先構(gòu)建的掩模與所述三維模型的正面和背面分別進行對齊,并基于對齊后的掩模提取所述三維模型的多個待檢測區(qū)域,其中,所述待檢測區(qū)域包括外圈區(qū)域、內(nèi)圈區(qū)域、條幅區(qū)域和卡扣區(qū)域;提取所述外圈區(qū)域的尺寸特征和形狀特征,提取所述待檢測區(qū)域的深度信息,以及提取所述卡扣區(qū)域沿預(yù)設(shè)剖線得到的剖視輪廓特征;基于預(yù)先構(gòu)建的輪蓋標準模型的特征、所述外圈區(qū)域的尺寸特征、所述外圈區(qū)域的圓度特征、所述待檢測區(qū)域的深度信息、所述剖視輪廓特征對所述待檢測輪蓋進行形狀檢測、尺寸檢測、表面瑕疵檢測以及卡扣檢測,得到第二檢測結(jié)果,包括:基于所述外圈區(qū)域的形狀特征對所述待檢測輪蓋進行圓度檢測,得到形狀檢測結(jié)果;基于預(yù)先構(gòu)建的外圈標準尺寸和所述外圈區(qū)域的尺寸對所述待檢測輪蓋進行外圈尺寸檢測,得到尺寸檢測結(jié)果;基于預(yù)先構(gòu)建的深度參考信息以及所述待檢測區(qū)域的深度信息對所述待檢測輪蓋進行表面瑕疵檢測,得到表面檢測結(jié)果;將所述剖視輪廓特征與預(yù)先構(gòu)建的標準卡扣剖視輪廓進行相似度對比,得到卡扣檢測結(jié)果。
如需購買、轉(zhuǎn)讓、實施、許可或投資類似專利技術(shù),可聯(lián)系本專利的申請人或?qū)@麢?quán)人成都煜恒科技有限公司,其通訊地址為:611730 四川省成都市郫都區(qū)現(xiàn)代工業(yè)港南片區(qū)正港路259號;或者聯(lián)系龍圖騰網(wǎng)官方客服,聯(lián)系龍圖騰網(wǎng)可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網(wǎng)”。
1、本報告根據(jù)公開、合法渠道獲得相關(guān)數(shù)據(jù)和信息,力求客觀、公正,但并不保證數(shù)據(jù)的最終完整性和準確性。
2、報告中的分析和結(jié)論僅反映本公司于發(fā)布本報告當(dāng)日的職業(yè)理解,僅供參考使用,不能作為本公司承擔(dān)任何法律責(zé)任的依據(jù)或者憑證。
- 恭喜株式會社力森諾科加茂和幸獲國家專利權(quán)
- 恭喜三星電子株式會社金成旿獲國家專利權(quán)
- 恭喜美蓓亞三美株式會社生田明子獲國家專利權(quán)
- 恭喜無錫景明電子科技有限公司王勇獲國家專利權(quán)
- 恭喜交互數(shù)字專利控股公司保羅·馬里內(nèi)爾獲國家專利權(quán)
- 恭喜浜松光子學(xué)株式會社中村共則獲國家專利權(quán)
- 恭喜谷歌有限責(zé)任公司A.G.霍華德獲國家專利權(quán)
- 恭喜松下電器(美國)知識產(chǎn)權(quán)公司安倍清史獲國家專利權(quán)
- 恭喜西藏邦臣藥業(yè)集團有限公司王建生獲國家專利權(quán)
- 恭喜東京毅力科創(chuàng)株式會社大谷鄉(xiāng)獲國家專利權(quán)


熱門推薦
- 恭喜奧特斯奧地利科技與系統(tǒng)技術(shù)有限公司舒斯特·貝蒂納獲國家專利權(quán)
- 恭喜高通股份有限公司H·D·奧沙爾獲國家專利權(quán)
- 恭喜寧波海天金屬成型設(shè)備有限公司葉盛獲國家專利權(quán)
- 恭喜福特全球技術(shù)公司劉宇獲國家專利權(quán)
- 恭喜洛陽師范學(xué)院馬友忠獲國家專利權(quán)
- 恭喜谷歌有限責(zé)任公司邁克爾·克萊納曼獲國家專利權(quán)
- 恭喜杜比實驗室特許公司呂陶然獲國家專利權(quán)
- 恭喜珠海優(yōu)特電力科技股份有限公司田世鋒獲國家專利權(quán)
- 恭喜寧合科技服務(wù)(南京)有限公司魏立安獲國家專利權(quán)
- 恭喜泉州眾志新材料科技有限公司李世進獲國家專利權(quán)