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龍圖騰網恭喜北京時代民芯科技有限公司;北京微電子技術研究所申請的專利一種抗輻照FPGA內嵌PCIExpress IP核的測試電路和方法獲國家發明授權專利權，本發明授權專利權由國家知識產權局授予，授權公告號為：CN116450425B 。

龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-04-15發布的發明授權授權公告中獲悉：該發明授權的專利申請號/專利號為：202211485634.1，技術領域涉及：G06F11/22；該發明授權一種抗輻照FPGA內嵌PCIExpress IP核的測試電路和方法是由孫華波;孫健爽;陳雷;張玉;翟笑;彭寶莉;孫晉怡;劉亞澤;張彥龍;伊經偉設計研發完成，并于2022-11-24向國家知識產權局提交的專利申請。

本一種抗輻照FPGA內嵌PCIExpress IP核的測試電路和方法在說明書摘要公布了：本發明提供了一種抗輻照FPGA內嵌PCIExpressIP核的測試電路和方法，電路包括：測試用輸入端口TDI，連接至N個被測PCIExpressIP核的測試用輸入端口TI；測試用輸出管腳TDO，連接至其中一個被測PCIExpressIP核的測試用輸出端口TO；所有的被測PCIExpressIP核的測試用輸出端口TO都連接至對比模塊；對比模塊，當N為1時，設定Result信號恒為1；當N大于1時，按位對比N個被測PCIExpressIP核的測試用輸出端口TO，如果N個被測PCIExpressIP核的測試用輸出端口TO存在不同，輸出Result信號為0，否則，輸出Result信號為1；測試機臺ATE，往測試用輸入管腳TDI中分兩次先后輸入不同的測試向量進行測試，如果兩次測試中，N個測試用輸出管腳TDO輸出的數據符合預期，且對比模塊輸出Result信號為1，則認為測試通過。

本發明授權一種抗輻照FPGA內嵌PCIExpress IP核的測試電路和方法在權利要求書中公布了：1.一種抗輻照FPGA內嵌PCIExpressIP核的測試電路，所述抗輻照FPGA內嵌N個被測PCIExpressIP核，N大于等于1，其特征在于包括測試用輸入管腳TDI108、測試用輸出管腳TDO106、對比模塊105；測試用輸入端口TDI108，通過FPGA互聯資源連接至N個被測PCIExpressIP核的測試用輸入端口TI；測試用輸出管腳TDO106，通過FPGA互聯資源連接至其中一個被測PCIExpressIP核的測試用輸出端口TO，所有的被測PCIExpressIP核的測試用輸出端口TO都連接至對比模塊105；對比模塊105，當N為1時，設定測試輸出指示信號Result恒為1；當N大于1時，按位對比N個被測PCIExpressIP核的測試用輸出端口TO，如果N個被測PCIExpressIP核的測試用輸出端口TO的輸出存在不同，則測試輸出指示信號Result為0，否則，測試輸出指示信號Result為為1；測試機臺ATE，往測試用輸入管腳TDI108中分兩次先后輸入不同的測試向量進行測試，如果兩次測試中，測試用輸出管腳TDO106輸出的數據符合預期，且對比模塊輸出Result信號為1，則認為測試通過，否則，認為測試未通過。

如需購買、轉讓、實施、許可或投資類似專利技術，可聯系本專利的申請人或專利權人北京時代民芯科技有限公司;北京微電子技術研究所，其通訊地址為：100076 北京市豐臺區東高地四營門北路2號；或者聯系龍圖騰網官方客服，聯系龍圖騰網可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網”。