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龍圖騰網(wǎng)獲悉中國科學(xué)院西安光學(xué)精密機(jī)械研究所申請的專利一種用于空間引力波探測的相干雜散光測量裝置及方法獲國家發(fā)明授權(quán)專利權(quán)，本發(fā)明授權(quán)專利權(quán)由國家知識(shí)產(chǎn)權(quán)局授予，授權(quán)公告號(hào)為：CN119354347B 。

龍圖騰網(wǎng)通過國家知識(shí)產(chǎn)權(quán)局官網(wǎng)在2025-04-04發(fā)布的發(fā)明授權(quán)授權(quán)公告中獲悉：該發(fā)明授權(quán)的專利申請?zhí)?專利號(hào)為：202411910026.X，技術(shù)領(lǐng)域涉及：G01J9/02；該發(fā)明授權(quán)一種用于空間引力波探測的相干雜散光測量裝置及方法是由馬博倫;王虎;陳欽芳;薛要克;馬占鵬;閆昊昱;劉佳文設(shè)計(jì)研發(fā)完成，并于2024-12-24向國家知識(shí)產(chǎn)權(quán)局提交的專利申請。

本一種用于空間引力波探測的相干雜散光測量裝置及方法在說明書摘要公布了：本發(fā)明屬于光學(xué)系統(tǒng)領(lǐng)域，具體涉及一種用于空間引力波探測的相干雜散光測量裝置及方法。主要解決現(xiàn)有雜散光測量裝置主要是針對非相干雜散光，無法有效識(shí)別和控制相干雜散光的技術(shù)問題。該裝置包括激光光源、第一光纖耦合器、第二光纖耦合器、第一聲光調(diào)制器、第二聲光調(diào)制器、第一準(zhǔn)直器、第二準(zhǔn)直器、第三準(zhǔn)直器、第一光束分離器、第二光束分離器、第一光電探測器、第二光電探測器、第三光電探測器、散射鏡、鎖相放大器和頻譜分析儀。本發(fā)明能夠精確捕捉和表征雜散光的相干特性，為高精度干涉測量提供了關(guān)鍵的數(shù)據(jù)支持，使得測量裝置能夠有效識(shí)別并測量相干雜散光，顯著提升了干涉測量的精度和可靠性。

本發(fā)明授權(quán)一種用于空間引力波探測的相干雜散光測量裝置及方法在權(quán)利要求書中公布了：1.一種用于空間引力波探測的相干雜散光測量裝置，其特征在于：包括激光光源1、第一光纖耦合器2、第二光纖耦合器5、第一聲光調(diào)制器3、第二聲光調(diào)制器4、第一準(zhǔn)直器6、第二準(zhǔn)直器8、第三準(zhǔn)直器7、第一光束分離器9、第二光束分離器10、第一光電探測器11、第二光電探測器12、第三光電探測器13、散射鏡14、鎖相放大器和頻譜分析儀；所述激光光源1的輸出端與第一光纖耦合器2的輸入端連接；所述第一聲光調(diào)制器3和第二聲光調(diào)制器4的輸入端分別與第一光纖耦合器2的第一輸出端和第二輸出端連接，用于調(diào)制各自輸入激光光束的頻率至各自的目標(biāo)值；所述第二聲光調(diào)制器4的輸出端接第二光纖耦合器5的輸入端；所述第一準(zhǔn)直器6和第二準(zhǔn)直器8分別與第一聲光調(diào)制器3的輸出端和第二光纖耦合器5的第一輸出端連接；所述第一光束分離器9設(shè)置在第一準(zhǔn)直器6的輸出光路上，以第一準(zhǔn)直器6輸出的激光光束為參考，所述第一光電探測器11設(shè)置在第一光束分離器9的反射光路上，所述第二光束分離器10設(shè)置在第一光束分離器9的透射光路上，同時(shí)位于第二準(zhǔn)直器8的輸出光路上，所述第二光電探測器12和第三光電探測器13分別設(shè)置在第二光束分離器10的反射光路和透射光路上；所述第三準(zhǔn)直器7的輸入端與第二光纖耦合器5的第二輸出端連接，所述散射鏡14設(shè)置在第三準(zhǔn)直器7的輸出光路上，用于產(chǎn)生相干雜散光，并將其反射至第一光束分離器9，通過第一光束分離器9將一部分相干雜散光透射至第一光電探測器11，同時(shí)將另一部分相干雜散光反射至第二光束分離器10，再經(jīng)第二光束分離器10反射至第二光電探測器12，同時(shí)透射至第三光電探測器13；所述第一光電探測器11、第二光電探測器12和第三光電探測器13分別用于將各自接收到的光信號(hào)轉(zhuǎn)換為電信號(hào)；所述鎖相放大器的輸入端分別與第一光電探測器11、第二光電探測器12和第三光電探測器13的輸出端連接，用于接收第一光電探測器11、第二光電探測器12和第三光電探測器13輸出的電信號(hào)，并對其進(jìn)行解調(diào)，以提取其中的相位信息；所述頻譜分析儀的輸入端與鎖相放大器的輸出端連接，用于接收鎖相放大器輸出的解調(diào)后電信號(hào)，并分析該電信號(hào)中的頻率成分，以提取相干雜散光的頻率和振幅信息。

如需購買、轉(zhuǎn)讓、實(shí)施、許可或投資類似專利技術(shù)，可聯(lián)系本專利的申請人或?qū)＠麢?quán)人中國科學(xué)院西安光學(xué)精密機(jī)械研究所，其通訊地址為：710119 陜西省西安市高新區(qū)新型工業(yè)園信息大道17號(hào)；或者聯(lián)系龍圖騰網(wǎng)官方客服，聯(lián)系龍圖騰網(wǎng)可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網(wǎng)”。