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龍圖騰網(wǎng)恭喜西安理工大學(xué)申請(qǐng)的專利一種光電經(jīng)緯儀與異址雷達(dá)聯(lián)合彈道容錯(cuò)定位方法獲國(guó)家發(fā)明授權(quán)專利權(quán)，本發(fā)明授權(quán)專利權(quán)由國(guó)家知識(shí)產(chǎn)權(quán)局授予，授權(quán)公告號(hào)為：CN113640789B 。

龍圖騰網(wǎng)通過國(guó)家知識(shí)產(chǎn)權(quán)局官網(wǎng)在2025-04-01發(fā)布的發(fā)明授權(quán)授權(quán)公告中獲悉：該發(fā)明授權(quán)的專利申請(qǐng)?zhí)?專利號(hào)為：202110820856.3，技術(shù)領(lǐng)域涉及：G01S13/86；該發(fā)明授權(quán)一種光電經(jīng)緯儀與異址雷達(dá)聯(lián)合彈道容錯(cuò)定位方法是由錢富才;楊越;晏琳;劉磊;謝國(guó)設(shè)計(jì)研發(fā)完成，并于2021-07-20向國(guó)家知識(shí)產(chǎn)權(quán)局提交的專利申請(qǐng)。

本一種光電經(jīng)緯儀與異址雷達(dá)聯(lián)合彈道容錯(cuò)定位方法在說明書摘要公布了：本發(fā)明公開了一種光電經(jīng)緯儀與異址雷達(dá)聯(lián)合彈道容錯(cuò)定位方法，具體為：首先，建立彈道參數(shù)的三階差分模型，根據(jù)閾值原則識(shí)別出彈道參數(shù)中的異常參數(shù)與無異常參數(shù)；根據(jù)識(shí)別出的無異常參數(shù)建立彈道3次B樣條模型；通過最小二乘法確定出模型中的樣條系數(shù)估值并得到樣條容錯(cuò)模型；再由異常參數(shù)以及樣條容錯(cuò)模型得到異常參數(shù)的修正值；最后將異常參數(shù)修正值替代原彈道參數(shù)中的異常參數(shù)，更新彈道參數(shù)，得到準(zhǔn)確的定位結(jié)果。通過對(duì)彈道參數(shù)中的異常數(shù)據(jù)進(jìn)行處理，使得定位出的彈道參數(shù)更加接近真實(shí)值，更有利于對(duì)評(píng)估與改良制導(dǎo)系統(tǒng)精度及性能，可以避免因光?雷異址定位方法的彈道參數(shù)不準(zhǔn)確而帶來的巨大利益損失。

本發(fā)明授權(quán)一種光電經(jīng)緯儀與異址雷達(dá)聯(lián)合彈道容錯(cuò)定位方法在權(quán)利要求書中公布了：1.一種光電經(jīng)緯儀與異址雷達(dá)聯(lián)合彈道容錯(cuò)定位方法，其特征在于，具體按照以下步驟實(shí)施：步驟1、建立彈道參數(shù)的三階差分模型，根據(jù)閾值原則識(shí)別出彈道參數(shù)中的異常參數(shù)與無異常參數(shù)；具體為：在X、Y或者Z方向的彈道參數(shù)中，{Ai}|i＝1，2，…，n是一個(gè)等間隔采樣的彈道參數(shù)數(shù)據(jù)序列，其中n為數(shù)據(jù)長(zhǎng)度，對(duì){Ai}作3階前向差分，得到三階差分序列，如式1所示；Δ3Ai＝Δ2Ai+1-Δ2Ai1；式1中，Δ2Ai＝ΔAi+1-ΔAi，Δ2Ai+1＝ΔAii+2-ΔAi+1；ΔAi＝Ai+1-Ai，ΔAi+1＝Ai+2-Ai+1；在得到彈道參數(shù)的三階差分序列{Δ3Ai}，i＝1，2，…，n-3之后，可得三階差分序列的均方差σ，如式2所示； 式2中，m為數(shù)據(jù)的起始點(diǎn)，l為數(shù)據(jù)長(zhǎng)度，σ為對(duì)應(yīng)的均方差，如果σλ，λ為判斷門限，將彈道參數(shù)中對(duì)應(yīng)于該部分差分?jǐn)?shù)據(jù)這一區(qū)域的彈道數(shù)據(jù)視為異常參數(shù)Aabnormal；如果σ≤λ，則將該部分彈道參數(shù)視為無異常參數(shù)Anormal，Anormal，λ是測(cè)量精度的3～5倍；為減少計(jì)算量，在三階差分?jǐn)?shù)據(jù){Δ3Ai}，i＝1，2，…，n-3中任取一段30個(gè)點(diǎn)的數(shù)據(jù)即可計(jì)算出測(cè)量精度，如下式所示； 式中，δ為測(cè)量精度，m′為所取三階差分?jǐn)?shù)據(jù)的起始點(diǎn)，l′為數(shù)據(jù)長(zhǎng)度；步驟2、根據(jù)步驟1識(shí)別出的無異常參數(shù)建立彈道3次B樣條模型；具體過程如下：由步驟1得到的無異常彈道參數(shù)用分段3次B樣條函數(shù)表示，如式3所示； 式3中，為無異常彈道參數(shù)，ti為彈道參數(shù)的采樣時(shí)間，L為數(shù)據(jù)長(zhǎng)度；p為分段數(shù)，αj為每一段的未知樣條系數(shù)，j＝0，…，p；εi為無異常彈道參數(shù)的隨機(jī)誤差向量；T0、Tp分別為所處理彈道參數(shù)區(qū)間的兩個(gè)時(shí)間端點(diǎn)，即Tp＝tL,T0＝t1，Tj為每一段彈道參數(shù)對(duì)應(yīng)的時(shí)刻，并且Tj＝T0+jh；h為每個(gè)分段區(qū)間的時(shí)間長(zhǎng)度， 為三階標(biāo)準(zhǔn)B樣條函數(shù)，令則有Bt如式4所示； 若令 并令ε＝[ε1，…，εL]T，則得到3次B樣條模型，如式5所示；Anormal＝Tα+ε5；其中，步驟3、通過最小二乘法確定出步驟2模型中的樣條系數(shù)估值并得到樣條容錯(cuò)模型；具體過程如下：設(shè)隨機(jī)誤差向量ε在時(shí)間序列上獨(dú)立同等方差σ2，由最小二乘法估計(jì)出樣條系數(shù)估值如式6所示； 進(jìn)一步得到樣條容錯(cuò)模型式中，為待估數(shù)據(jù)序列，為待估數(shù)據(jù)序列的樣條基函數(shù)，并且， N為待估數(shù)據(jù)序列的長(zhǎng)度，P為樣條分段數(shù)，h為每個(gè)分段區(qū)間的時(shí)間長(zhǎng)度；步驟4、由步驟1中識(shí)別出的異常參數(shù)以及步驟3確定出的樣條容錯(cuò)模型得到異常參數(shù)的修正值；具體為：由步驟3中的計(jì)算彈道參數(shù)中異常區(qū)域數(shù)據(jù)的樣條基函數(shù)再由樣條容錯(cuò)模型得到異常區(qū)域數(shù)據(jù)的修正值，如式7所示； 步驟5、將步驟4得到的異常參數(shù)修正值替代原彈道參數(shù)中的異常參數(shù)，更新彈道參數(shù)，得到準(zhǔn)確的定位結(jié)果。

如需購(gòu)買、轉(zhuǎn)讓、實(shí)施、許可或投資類似專利技術(shù)，可聯(lián)系本專利的申請(qǐng)人或?qū)＠麢?quán)人西安理工大學(xué)，其通訊地址為：710048 陜西省西安市碑林區(qū)金花南路5號(hào)；或者聯(lián)系龍圖騰網(wǎng)官方客服，聯(lián)系龍圖騰網(wǎng)可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網(wǎng)”。