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龍圖騰網恭喜埃薩伊公司申請的專利一種測試探針組件獲國家發明授權專利權，本發明授權專利權由國家知識產權局授予，授權公告號為：CN114791554B 。

龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-03-21發布的發明授權授權公告中獲悉：該發明授權的專利申請號/專利號為：202210058547.1，技術領域涉及：G01R31/28；該發明授權一種測試探針組件是由納賽爾·巴拉比;何志華;李憲林設計研發完成，并于2022-01-19向國家知識產權局提交的專利申請。

本一種測試探針組件在說明書摘要公布了：本公開涉及用于集成電路器件測試工具的具有阻抗調諧的混合屏蔽插座。集成電路測試系統的高頻操作通過并入專用高頻信號元件得到極大擴展，該元件提供電路特定補償網絡作為中間電路板的一部分，其實現測試設備和被測集成電路之間的連接。

本發明授權一種測試探針組件在權利要求書中公布了：1.一種測試探針組件，具有測試夾具和插入焊盤，用于測試封裝集成電路（IC）被測器件（DUT），所述測試夾具包括：主塊，具有多個主探針腔，用于容納多個可壓縮探針，所述多個可壓縮探針被配置為當在柔順力下時重復地保持與對應的多個DUT觸點的可靠電接觸，所述探針中的每一者具有包含在其探針保持腔內的探針筒以及相反延伸的上探針尖端和下探針尖端，每個探針的相反延伸的探針尖端能壓在所述探針筒中，并且其中，所述主塊由導電材料制成，并且其中，腔壁包括絕緣層；上部塊，具有多個上探針腔，用于容納所述多個探針的上探針尖端，并且其中，所述上部塊由絕緣材料制成，用于在所述DUT和PCB測試電路之間進行阻抗調諧；下部塊，具有多個下探針腔，用于容納所述多個探針的下探針尖端；其中，所述測試夾具連接到所述插入焊盤，所述插入焊盤具有：相互絕緣的電源層和接地層；與所述電源層和所述接地層絕緣的至少一個信號層，所述至少一個信號層具有一個或多個信號傳輸線；在所述多個探針和所述一個或多個信號傳輸線之間提供電耦合的一個或多個通孔，其中一個或多個通孔被配置用于從所述DUT向用于從測試設備布線的至少一個終端點傳輸和接收信號；以及一個或多個反應元件，所述一個或多個反應元件耦合到所述一個或多個信號傳輸線的一個或多個部分以針對由所述測試探針組件引入的寄生電抗提供匹配或消除，并且其中，所述一個或多個反應元件包括用于創建濾波器特性以增加或減少特定頻率的諧振結構。

如需購買、轉讓、實施、許可或投資類似專利技術，可聯系本專利的申請人或專利權人埃薩伊公司，其通訊地址為：美國加利福尼亞州；或者聯系龍圖騰網官方客服，聯系龍圖騰網可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網”。