恭喜清華大學深圳國際研究生院;國網江蘇省電力有限公司電力科學研究院梅紅偉獲國家專利權
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龍圖騰網恭喜清華大學深圳國際研究生院;國網江蘇省電力有限公司電力科學研究院申請的專利基于太赫茲波的內部缺陷成像方法、電子設備及存儲介質獲國家發明授權專利權,本發明授權專利權由國家知識產權局授予,授權公告號為:CN114689598B 。
龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-03-21發布的發明授權授權公告中獲悉:該發明授權的專利申請號/專利號為:202210302242.0,技術領域涉及:G01N21/88;該發明授權基于太赫茲波的內部缺陷成像方法、電子設備及存儲介質是由梅紅偉;劉建軍;王黎明;陳大兵;王磊設計研發完成,并于2022-03-24向國家知識產權局提交的專利申請。
本基于太赫茲波的內部缺陷成像方法、電子設備及存儲介質在說明書摘要公布了:一種基于太赫茲波的內部缺陷成像方法、電子設備及計算機可讀存儲介質,所述方法包括:獲取對待測產品的多個檢測點進行太赫茲波掃描檢測而反射回的多個太赫茲反射波;提取多個太赫茲反射波的波形特征參數;將多個太赫茲反射波的波形特征參數輸入至缺陷識別模型,得到每個檢測點的缺陷檢測結果及缺陷決策值;基于每個檢測點的缺陷檢測結果生成缺陷成像圖,及基于每個檢測點的缺陷決策值生成缺陷位置決策圖。本發明利用太赫茲波來實現對待測產品的內部缺陷成像,缺陷檢測準確性高,且可確定內部缺陷的嚴重程度。
本發明授權基于太赫茲波的內部缺陷成像方法、電子設備及存儲介質在權利要求書中公布了:1.一種基于太赫茲波的內部缺陷成像方法,其特征在于,包括:獲取對待測產品的多個檢測點進行太赫茲波掃描檢測而反射回的多個太赫茲反射波;提取所述多個太赫茲反射波的波形特征參數;將所述多個太赫茲反射波的波形特征參數輸入至預先訓練的缺陷識別模型,得到所述多個檢測點中的每個檢測點的缺陷檢測結果及缺陷決策值;基于所述每個檢測點的缺陷檢測結果生成所述待測產品的缺陷成像圖,及基于所述每個檢測點的缺陷決策值生成所述待測產品的缺陷位置決策圖;其中,所述缺陷識別模型的訓練過程包括:獲取多個訓練樣本波形,所述多個訓練樣本波形包括對包含缺陷的產品樣本進行太赫茲波掃描檢測而反射回的太赫茲反射波及對不包含缺陷的產品樣本進行太赫茲波掃描檢測而反射回的太赫茲反射波,所述包含缺陷的產品樣本包括多個缺陷類型;提取所述多個訓練樣本波形中的每個訓練樣本波形的波形特征參數;對所述每個訓練樣本波形的波形特征參數進行歸一化處理與權重分配,并按照缺陷類型進行標定;基于支持向量機算法及所述每個訓練樣本波形的波形特征參數訓練得到所述缺陷識別模型,所述支持向量機算法用于通過預設核函數將所述每個訓練樣本波形的波形特征參數映射至高維特征空間,以尋找一超平面將所述高維特征空間中的兩類產品樣本分隔開;所述將所述多個太赫茲反射波的波形特征參數輸入至預先訓練的缺陷識別模型,得到所述多個檢測點中的每個檢測點的缺陷檢測結果及缺陷決策值,包括:將與所述多個檢測點中的第一檢測點對應的波形特征參數輸入至所述缺陷識別模型,得到所述第一檢測點與所述超平面的相對位置關系;基于所述第一檢測點與所述超平面的相對位置關系得到所述第一檢測點的缺陷檢測結果;獲取所述第一檢測點與所述超平面的相對距離,及基于所述相對距離得到所述第一檢測點的缺陷決策值。
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