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龍圖騰網恭喜華南師范大學申請的專利基于空間共定位掩模過濾的超分辨SIM-FRET圖像重建方法獲國家發明授權專利權，本發明授權專利權由國家知識產權局授予，授權公告號為：CN114913065B 。

龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-03-21發布的發明授權授權公告中獲悉：該發明授權的專利申請號/專利號為：202210332681.6，技術領域涉及：G06F17/00；該發明授權基于空間共定位掩模過濾的超分辨SIM-FRET圖像重建方法是由陳同生;羅澤偉設計研發完成，并于2022-03-31向國家知識產權局提交的專利申請。

本基于空間共定位掩模過濾的超分辨SIM-FRET圖像重建方法在說明書摘要公布了：本發明公開了一種基于空間共定位掩模過濾的超分辨SIM?FRET圖像重建方法，本發明采用統一的維納重建參數進行FRET三通道SR?SIM線性維納重建，該重建方法可以最大程度保持原始圖像熒光強度的線性關系進而滿足FRET計算熒光強度的保真度的要求；進一步的本發明實現了一種空間共定位掩模生成方法，其可有針對性地過濾去除SR?SIM線性維納重建的隨機噪聲偽像帶來的FRET假陽性信號，同時保留具有超分辨精細結構的FRET信號，進而實現FERT的定量超分辨檢測。

本發明授權基于空間共定位掩模過濾的超分辨SIM-FRET圖像重建方法在權利要求書中公布了：1.基于空間共定位掩模過濾的超分辨SIM-FRET圖像重建方法，其特征在于，包括下述步驟：獲取經過結構光調制的FRET三通道原始圖像數據組；所述FRET三通道包括供體激發供體發射通道DD、受體激發受體發射通道DA以及供體激發受體發射通道AA；基于統一維納重建參數進行FRET三通道結構光超分辨線性維納重建，得到FRET三通道超分辨圖像數據，具體為：對FRET三通道原始圖像組通過統一維納重建參數進行結構光超分辨線性維納重建，得到FRET三通道超分辨圖像數據： ；其中，為FRET通道X相應圖像的傅里葉變換；k為熒光圖像像素轉化到頻域的坐標，為FRET通道X相應結構光方向角θ下的初相位，為FRET通道X相應結構光方向角θ下的調制深度，為FRET通道X相應結構光方向角θ下的空間頻率，為SR-SIM系統的光學傳遞函數，表示FRET通道X對應SR-SIM系統的光學傳遞函數在頻域空間按照空間頻率矢量和進行頻譜搬移，、分別表示的共軛，通道X包括供體激發供體發射通道DD、受體激發受體發射通道DA以及供體激發受體發射通道AA；w為重建維納參數，為高斯型切趾函數，iFFT為圖像的反傅里葉變換；對FRET三通道超分辨圖像進行數據對齊處理；對FRET三通道超分辨圖像進行扣背景處理；根據DD、AA通道FRET區域圖像的強相關特性生成空間共定位掩模版，并根據空間共定位掩模版去除FRET假陽性信號；將去除FRET假陽性信號的超分辨圖像進行FRET效率和供受體濃度比的測量。

如需購買、轉讓、實施、許可或投資類似專利技術，可聯系本專利的申請人或專利權人華南師范大學，其通訊地址為：510631 廣東省廣州市天河區中山大道西55號華南師范大學；或者聯系龍圖騰網官方客服，聯系龍圖騰網可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網”。