福建省晉華集成電路有限公司張欽福獲國(guó)家專利權(quán)
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龍圖騰網(wǎng)獲悉福建省晉華集成電路有限公司申請(qǐng)的專利一種半導(dǎo)體器件制備方法以及半導(dǎo)體器件獲國(guó)家發(fā)明授權(quán)專利權(quán),本發(fā)明授權(quán)專利權(quán)由國(guó)家知識(shí)產(chǎn)權(quán)局授予,授權(quán)公告號(hào)為:CN111916397B 。
龍圖騰網(wǎng)通過(guò)國(guó)家知識(shí)產(chǎn)權(quán)局官網(wǎng)在2025-07-04發(fā)布的發(fā)明授權(quán)授權(quán)公告中獲悉:該發(fā)明授權(quán)的專利申請(qǐng)?zhí)?專利號(hào)為:202010842754.7,技術(shù)領(lǐng)域涉及:H10D84/03;該發(fā)明授權(quán)一種半導(dǎo)體器件制備方法以及半導(dǎo)體器件是由張欽福;馮立偉;童宇誠(chéng)設(shè)計(jì)研發(fā)完成,并于2020-08-20向國(guó)家知識(shí)產(chǎn)權(quán)局提交的專利申請(qǐng)。
本一種半導(dǎo)體器件制備方法以及半導(dǎo)體器件在說(shuō)明書(shū)摘要公布了:本發(fā)明公開(kāi)了一種半導(dǎo)體器件制備方法以及半導(dǎo)體器件,通過(guò)在基底上形成疊層結(jié)構(gòu),其中,基底包括單元陣列區(qū)、外圍電路區(qū)以及位于單元陣列區(qū)與外圍電路區(qū)之間的中間區(qū)域;在中間區(qū)域形成環(huán)繞單元陣列區(qū)外圍的保護(hù)環(huán)溝槽;在疊層結(jié)構(gòu)中第二介電層的上表面沉積第一絕緣材料形成第二支撐層,在保護(hù)環(huán)溝槽的底表面和側(cè)壁沉積第二絕緣材料形成保護(hù)環(huán)結(jié)構(gòu);在單元陣列區(qū)形成電容結(jié)構(gòu)。該方法通過(guò)先形成保護(hù)環(huán)結(jié)構(gòu),可以避免后續(xù)在單元陣列區(qū)形成電容結(jié)構(gòu)時(shí)對(duì)外圍電路區(qū)的蝕刻,另外,還可以支撐單元陣列區(qū)的電極結(jié)構(gòu)、提高結(jié)構(gòu)的穩(wěn)定性,以及對(duì)單元陣列區(qū)和外圍電路區(qū)進(jìn)行物理隔離,避免電流泄漏,從而極大的提高了半導(dǎo)體器件的性能。
本發(fā)明授權(quán)一種半導(dǎo)體器件制備方法以及半導(dǎo)體器件在權(quán)利要求書(shū)中公布了:1.一種半導(dǎo)體器件制備方法,其特征在于,包括: 在基底上形成疊層結(jié)構(gòu),其中,所述疊層結(jié)構(gòu)包括在所述基底上依次形成的第一介電層、第一支撐結(jié)構(gòu)和第二介電層,所述基底包括單元陣列區(qū)、外圍電路區(qū)以及位于所述單元陣列區(qū)與所述外圍電路區(qū)之間的中間區(qū)域; 在所述中間區(qū)域形成環(huán)繞所述單元陣列區(qū)外圍的多個(gè)保護(hù)環(huán)溝槽; 在所述第二介電層的上表面沉積第一絕緣材料形成第二支撐層,在所述多個(gè)保護(hù)環(huán)溝槽的底表面和側(cè)壁沉積第二絕緣材料形成保護(hù)環(huán)結(jié)構(gòu);所述保護(hù)環(huán)結(jié)構(gòu)包括多個(gè)保護(hù)環(huán),所述多個(gè)保護(hù)環(huán)沿著垂直于所述基底的方向延伸,且延伸深度不相同; 在所述單元陣列區(qū)形成電容結(jié)構(gòu)。
如需購(gòu)買(mǎi)、轉(zhuǎn)讓、實(shí)施、許可或投資類似專利技術(shù),可聯(lián)系本專利的申請(qǐng)人或?qū)@麢?quán)人福建省晉華集成電路有限公司,其通訊地址為:362200 福建省泉州市晉江市集成電路科學(xué)園聯(lián)華大道88號(hào);或者聯(lián)系龍圖騰網(wǎng)官方客服,聯(lián)系龍圖騰網(wǎng)可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網(wǎng)”。
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