恭喜漢諾威戈特弗里德威廉萊布尼茨大學S·齊默爾曼獲國家專利權
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龍圖騰網恭喜漢諾威戈特弗里德威廉萊布尼茨大學申請的專利離子遷移譜儀和用于通過離子遷移譜分析樣本的方法獲國家發明授權專利權,本發明授權專利權由國家知識產權局授予,授權公告號為:CN112262315B 。
龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-07-01發布的發明授權授權公告中獲悉:該發明授權的專利申請號/專利號為:201980037150.0,技術領域涉及:G01N27/622;該發明授權離子遷移譜儀和用于通過離子遷移譜分析樣本的方法是由S·齊默爾曼;A·柯克;M·立普曼;A·波恩霍斯特設計研發完成,并于2019-04-03向國家知識產權局提交的專利申請。
本離子遷移譜儀和用于通過離子遷移譜分析樣本的方法在說明書摘要公布了:本發明涉及一種離子遷移譜儀,所述離子遷移譜儀至少具有第一漂移室和用于將離子受控地轉移到所述第一漂移室中的第一可切換離子門,其中:所述第一離子門被設計為至少具有第一反電極和第一注入電極的場切換離子門;其中,第一電離室形成在所述第一反電極與所述第一注入電極之間,待通過離子遷移譜分析的離子能夠從電離源被饋送到所述第一電離室中。本發明還涉及離子遷移譜儀,其至少具有第一漂移室和用于將離子受控地轉移到第一漂移室中的第一可切換離子門,以及與第一漂移室分開的第二漂移室和用于將離子受控地轉移到第二漂移室中的第二可切換離子門。本發明還涉及用于借助于離子遷移譜儀、例如前述類型的離子遷移譜儀通過離子遷移譜分析樣本的方法,其中借助于電離源,待分析的離子從樣本中產生并且被提供在離子遷移譜儀的電離室中。
本發明授權離子遷移譜儀和用于通過離子遷移譜分析樣本的方法在權利要求書中公布了:1.一種用于借助于離子遷移譜儀通過離子遷移譜來分析樣本的方法,所述離子遷移譜儀至少包括第一漂移室14和用于將離子受控地轉移到所述第一漂移室14中的可切換的第一離子門10,其中所述第一離子門10被實現為至少包括第一反電極11和第一注入電極12的場切換離子門,其中第一電離室13形成在所述第一反電極11與所述第一注入電極12之間,待通過離子遷移譜分析的離子能夠從電離源3被饋送到所述第一電離室中,其中至少一個第一附加電極19布置在所述第一離子門10與所述第一漂移室14之間,借助于所述第一離子門10轉移到所述第一漂移室14中的離子附加地能夠受到所述第一附加電極的影響,其中借助于電離源3,待分析的離子從所述樣本中產生并且被提供在所述第一電離室13中,并且在工藝中產生的所述離子在所述第一離子門10的控制下被引導到所述第一漂移室14中,其中所述第一電離室13至少在離子產生時段期間沒有電場,其特征在于以下特征a、b中的一者或兩者: a在離子包被轉移到所述第一漂移室14中之前,通過切換所述第一注入電極12與所述第一反電極11之間的電勢差,被設置在所述第一電離室13中的所述離子包在第一壓縮步驟中被第一次壓縮,并且在經過所述第一注入電極12之后,通過切換所述第一附加電極19與所述第一注入電極12之間的電勢差,所述離子包至少在第二壓縮步驟中被第二次壓縮, b至少在所述離子產生時段期間,通過所述第一附加電極19將在所述第一電離室13中產生的離子與在所述第一漂移室14中產生的電場部分屏蔽開, 至少在所述離子產生時段期間,所述第一注入電極12與用于屏蔽的所述第一附加電極19之間的電勢梯度等于零,或者與所述第一漂移室14中的電勢梯度相反。
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